特許

J-GLOBAL ID：201203015369769233

めっきの劣化状態診断方法および装置

発明者： 江藤 修三 ,  藤井 隆
出願人/特許権者： 財団法人電力中央研究所
代理人 (1件)： 村瀬 一美
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2010-213747
公開番号（公開出願番号）：特開2012-068144
出願日： 2010年09月24日
公開日（公表日）： 2012年04月05日
要約：

【課題】 視覚的観察並の簡便さを有しながらも測定条件および汚れなどの外見の影響を受けずに客観的な点検を可能とする。また、鋼管内面といった点検者および点検機器の接近が困難な箇所の点検を可能とする。【解決手段】 金属の被めっき物に施されためっきを対象とし、検査対象であるめっき表面にパルスレーザー光を照射してめっきの表面をアブレーションし、アブレーションにより生じたプラズマの発光を計測し、分光することにより金属下地を構成する元素の発光強度とめっき成分元素の発光強度とを求め、金属下地を構成する元素の発光強度とめっき成分元素の発光強度との強度比の変化からめっき層の劣化状態を評価するようにしている。【選択図】図10

請求項（抜粋）：

金属の被めっき物に施されためっきの劣化状況を診断する方法において、検査対象であるめっき表面にパルスレーザー光を照射してめっきの表面をアブレーションし、前記アブレーションにより生じたプラズマの発光を計測し、分光することにより金属下地を構成する元素の発光強度と前記めっき成分元素の発光強度とを求め、前記金属下地を構成する元素の発光強度と前記めっき成分元素の発光強度との強度比の変化からめっき層の劣化状態を評価するめっきの劣化診断方法。

IPC (1件)：

G01N 21/63

FI (1件)：

G01N21/63 Z

Fターム (16件)：

2G043AA01 ,  2G043BA01 ,  2G043BA02 ,  2G043CA07 ,  2G043EA10 ,  2G043FA06 ,  2G043HA01 ,  2G043HA02 ,  2G043HA05 ,  2G043JA01 ,  2G043KA02 ,  2G043KA03 ,  2G043KA05 ,  2G043LA03 ,  2G043NA01 ,  2G043NA06