特許
J-GLOBAL ID：201203019541795360

電気抵抗の測定方法

発明者：
渡辺 博道

渡辺 博道 について


出願人/特許権者：
独立行政法人産業技術総合研究所

独立行政法人産業技術総合研究所 について


公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2010-196277
公開番号（公開出願番号）：特開2012-052935
出願日： 2010年09月02日
公開日（公表日）： 2012年03月15日
要約：
【課題】 本発明は、通電自己加熱により急速昇温中のオーミックな導電性物質の電気抵抗を4端子法の原理により測定する方法において、広い温度範囲における電気抵抗率を正確かつ効率的に導出できる電気抵抗の測定方法を提供することを課題とする。【解決手段】 通電自己加熱により急速昇温中のオーミックな導電性物質の電気抵抗を4端子法の原理により測定する方法であって、同一試料の昇温速度を変化させて行った複数回の測定から得られる電圧-電流プロット一次近似直線の傾きから試料の電気抵抗を導出することを特徴とする電気抵抗の測定方法。【選択図】図2
請求項（抜粋）：
通電自己加熱により急速昇温中のオーミックな導電性物質の電気抵抗を4端子法の原理により測定する方法であって、同一試料の昇温速度を変化させて行った複数回の測定から得られる電圧-電流プロットに関する近似直線の傾きから試料の電気抵抗を導出することを特徴とする電気抵抗の測定方法。
IPC (2件)：
G01R 27/02 ,  G01N 27/00
FI (2件)：
G01R27/02 R ,  G01N27/00 D
Fターム (14件)：
2G028AA01 ,  2G028BC10 ,  2G028CG02 ,  2G028DH03 ,  2G028FK01 ,  2G028FK07 ,  2G028HN11 ,  2G060AA09 ,  2G060AF02 ,  2G060AF07 ,  2G060AG04 ,  2G060EB07 ,  2G060HA01 ,  2G060HC02
引用特許：
出願人引用 (5件)
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審査官引用 (5件)
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