特許
J-GLOBAL ID:201203020272703606

粉体特性測定装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (5件): 三好 秀和 ,  岩▲崎▼ 幸邦 ,  伊藤 正和 ,  高橋 俊一 ,  高松 俊雄
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2010-233625
公開番号(公開出願番号):特開2012-088108
出願日: 2010年10月18日
公開日(公表日): 2012年05月10日
要約:
【課題】 衝撃付与手段に妨害されずに1種類の光源で粉体堆積層の崩潰角やスパチュラ角を簡単に測定することができる粉体特性測定装置を提供する。【解決手段】 粉体堆積層7を挟んで対向するように配設されたカメラ71とLED光源73とを結ぶ経路から外れた粉体堆積層7の真横に衝撃付与手段200を配設し、この衝撃付与手段200により安息角バー11を介して粉体堆積層7に衝撃を与える。【選択図】 図1
請求項(抜粋):
測定室内に配置され粉体テーブル上の粉体推積層に対して少なくとも安息角、崩潰角、スパチュラ角を測定する測定手段を備えた粉体特性測定装置において、 前記測定手段は、同一線上に配置され、粉体推積層を挟んで対向配置された一方の光源及び他方の撮像手段と、前記粉体推積層の粉体テーブルに錘落下時の衝撃により衝撃振動を与える衝撃付手段とを有し、前記衝撃付与手段は、前記撮像手段と光源とを結ぶビーム状に延びた撮像領域の外側に配置されていることを特徴とする粉体特性測定装置。
IPC (2件):
G01N 11/00 ,  G01N 13/00
FI (2件):
G01N11/00 D ,  G01N13/00

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