特許

J-GLOBAL ID：201203024303185523

電子顕微鏡観察用サンプルの作製方法及びキット

発明者： 原口 徳子
出願人/特許権者： 独立行政法人情報通信研究機構
代理人 (1件)： 新保 斉
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2011-008666
公開番号（公開出願番号）：特開2012-149992
出願日： 2011年01月19日
公開日（公表日）： 2012年08月09日
要約：

【課題】最適な方法で効率良く、液体中に存在し浮遊性を有するサンプルの浮遊性を抑止して光学顕微鏡で観察できるようにし、また、そのサンプルの中から電子顕微鏡観察の対象とすべきサンプルを光学顕微鏡で特定し、特定したサンプルを電子顕微鏡で詳細に観察することを可能にする電子顕微鏡観察用サンプル作製方法と、そのサンプル作製キットを提供すること。【解決手段】レクチンを含有する媒体に浮遊性サンプルを含ませ、浮遊性サンプルの浮遊性を抑止し、浮遊性サンプルを含む層を観察用基板上に形成するステップと、その層に対する光学顕微鏡観察により、電子顕微鏡で観察対象とする浮遊性サンプルを特定するステップと、電子顕微鏡での観察対象に特定された浮遊性サンプルを含む部位に対して、固定及び包埋の処理を行うステップと、電子顕微鏡での観察対象に特定された浮遊性サンプルを含む部位を成形処理し、電子顕微鏡観察用サンプルとなる薄片を作製するステップとを有する。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

浮遊性を有するサンプルを電子顕微鏡で観察するためのサンプルを作製する方法であって、 レクチンを含有する媒体に浮遊性サンプルを含ませ、浮遊性サンプルの浮遊性を抑止し、浮遊性サンプルを含む層を観察用基板上に形成するステップと、 その層に対する光学顕微鏡観察により、電子顕微鏡で観察対象とする浮遊性サンプルを特定するステップと、 電子顕微鏡での観察対象に特定された浮遊性サンプルを含む部位に対して、固定及び包埋の処理を行うステップと、 電子顕微鏡での観察対象に特定された浮遊性サンプルを含む部位を成形処理し、電子顕微鏡観察用サンプルとなる薄片を作製するステップと、を有する ことを特徴とする電子顕微鏡観察用サンプルの作製方法。

IPC (4件)：

G01N 1/28 ,  G01N 1/36 ,  G01N 1/30 ,  G01N 1/10

FI (4件)：

G01N1/28 F ,  G01N1/28 R ,  G01N1/30 ,  G01N1/10 H

Fターム (10件)：

2G052AA33 ,  2G052AD29 ,  2G052AD52 ,  2G052EC03 ,  2G052ED17 ,  2G052FA01 ,  2G052FA08 ,  2G052GA32 ,  2G052GA34 ,  2G052JA04