特許
J-GLOBAL ID：201203025235525058
装置異常監視方法及びシステム
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
筒井 大和
公報種別：再公表公報
出願番号（国際出願番号）：JP2009050385
公開番号（公開出願番号）：WO2010-082322
出願日： 2009年01月14日
公開日（公表日）： 2010年07月22日
要約：
装置異常監視方法に係わり、精度良い異常検知が可能なモデル及びそれを用いた監視などを実現できる技術である。本装置異常監視システムでは、モデル作成モジュール(2)は、対象となる装置(1)から計測した複数の状態データ項目(DS)をもとに、回帰分析に基づき、説明変数(X)毎の目的変数(Y)の予測モデルによる集団モデルを作成する。これを用いて、監視実行モジュール(3)は、装置(1)の状態を監視して異常を検知する。特に、説明変数(X)は、共線性項目(XA)と独立性項目(XB)とに分類され、共線性項目(XA)毎に、当該共線性項目(XA)と、独立性項目(XB)とを用いた個別のモデルが作成される。それらの集団モデルを用いて、目的変数(Y)の予測値、予測値と実測値との乖離度、及び集団乖離度などが計算される。
請求項（抜粋）：
コンピュータの情報処理を用いて、対象とする装置の状態を複数のセンサで計測して得られる前記装置の複数の状態データ項目に基づいて、前記装置の状態の異常を監視及び判定する処理を行う装置異常監視方法であって、
前記装置の正常時の前記複数の状態データ項目に基づき、前記監視及び判定のためのモデルを作成するモデル作成処理を行う第1のステップと、
所定時間単位で、前記装置の複数の状態データ項目を入力し、前記モデルを用いて、前記装置の状態の異常を監視及び判定し、異常を検知した場合には検知情報を出力する監視実行処理を行う第2のステップと、を有し、
前記第1のステップでは、
前記複数の状態データ項目を、回帰分析における、目的変数データ項目と、それ以外の2つ以上の説明変数データ項目とに分類するステップと、
前記モデルの集団を構成する2つ以上の個別のモデルとして、前記説明変数データ項目毎に、当該1つの説明変数データ項目から前記目的変数データ項目を予測する個別のモデルを作成することで前記モデルの集団を構成するステップと、を有し、
前記第2のステップでは、
前記複数の状態データ項目の入力に対して、
前記モデルの集団を構成する個別のモデル毎に、前記説明変数データ項目を入力として、前記目的変数データ項目の個別の予測値を計算するステップと、
前記個別の予測値毎に、前記目的変数データ項目の実測値と、当該予測値との間における個別の乖離度を計算するステップと、
前記説明変数データ項目毎に得られた前記複数の乖離度を組み合わせた集団乖離度を計算するステップと、
前記集団乖離度としきい値とを比較することで前記装置の異常を検知するステップと、を有すること、を特徴とする装置異常監視方法。
IPC (1件)：
FI (2件)：
G05B23/02 302V
, G05B23/02 T
5H223AA02
, 5H223BB02
, 5H223BB08
, 5H223DD03
, 5H223EE06
, 5H223FF05
