特許

J-GLOBAL ID：201203030777997014

半導体集積回路及びその制御方法

発明者： 空岡 誠実
出願人/特許権者： ルネサスエレクトロニクス株式会社
代理人 (1件)： 家入 健
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2011-059445
公開番号（公開出願番号）：特開2012-194111
出願日： 2011年03月17日
公開日（公表日）： 2012年10月11日
要約：

【課題】アプリケーション実行効率をよりよくすることができる半導体集積回路及びその制御方法を提供すること【解決手段】本発明にかかる半導体集積回路は、スキャンチェーンを有するプロセッサと、プロセッサにアプリケーションを実行させるプロセッサ制御部と、プロセッサのスキャンテストを制御するスキャンテスト制御部と、を有する。そして、スキャンテスト制御部がスキャンテストを実行している際に、プロセッサ制御部からのスキャンテスト中断要求があった場合、スキャンテストを中断し、アプリケーションの実行後に、スキャンテストを再開させるものである。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

スキャンチェーンを有するプロセッサと、 前記プロセッサにアプリケーションを実行させるプロセッサ制御部と、 前記プロセッサのスキャンテストを制御するスキャンテスト制御部と、を有し、 前記スキャンテスト制御部は、前記プロセッサのスキャンテストを実行している際に、前記プロセッサ制御部からのスキャンテスト中断要求があった場合、当該プロセッサのスキャンテストを中断し、アプリケーションの実行後に、スキャンテストを再開させる半導体集積回路。

IPC (3件)：

G01R 31/28 ,  H01L 21/822 ,  H01L 27/04

FI (2件)：

G01R31/28 G ,  H01L27/04 T

Fターム (17件)：

2G132AA01 ,  2G132AB02 ,  2G132AC14 ,  2G132AD06 ,  2G132AE23 ,  2G132AG12 ,  2G132AK14 ,  2G132AK15 ,  2G132AK23 ,  2G132AK29 ,  5F038DF04 ,  5F038DF05 ,  5F038DT06 ,  5F038DT07 ,  5F038DT08 ,  5F038DT17 ,  5F038EZ20