特許
J-GLOBAL ID：201203031044920160
配管系のクリープ損傷診断装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
酒井 宏明
, 高村 順
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2010-280954
公開番号（公開出願番号）：特開2012-127867
出願日： 2010年12月16日
公開日（公表日）： 2012年07月05日
要約：
【課題】配管系の溶接部におけるクリープ損傷を好適に診断することができ、また、配管系の溶接部におけるクリープ損傷の損傷度合を、点検作業員に対して容易に認識させることができる配管系のクリープ損傷診断装置を提供する。【解決手段】配管系モデルを生成する配管系モデル生成部61と、配管系モデルを解析して曲げモーメントを導出する配管系解析部64と、溶接部モデルを生成する溶接部モデル生成部62と、溶接部モデルに対し曲げモーメントを付与して解析し、応力を導出する溶接部解析部65と、粒界モデルを生成する粒界モデル生成手段と、粒界モデルに対し応力を付与して解析し、クリープ損傷を導出するクリープ損傷解析部66と、クリープ損傷解析部66により導出したクリープ損傷の損傷度合を、配管系に亘って識別可能に表示する表示部53と、を備えた。【選択図】図4
請求項（抜粋）：
予め入力された配管系設計条件に基づいて、溶接部を有する配管系を模擬した配管系モデルを生成する配管系モデル生成手段と、
生成された前記配管系モデルを解析して、前記溶接部に付与される曲げモーメントを導出する配管系解析手段と、
予め入力された溶接部設計条件に基づいて、前記溶接部を模擬する複数の要素で構成された溶接部モデルを生成する溶接部モデル生成手段と、
生成された前記溶接部モデルに対し、前記配管系解析手段によって導出された前記曲げモーメントを付与して解析し、前記溶接部の前記各要素に付与される応力を導出する溶接部解析手段と、
予め入力された前記各要素における結晶粒界の粒界設計条件に基づいて、前記結晶粒界を模擬した粒界モデルを生成する粒界モデル生成手段と、
生成された前記粒界モデルに対し、前記溶接部解析手段によって導出された前記応力を付与して解析し、前記溶接部に発生するクリープ損傷を導出するクリープ損傷解析手段と、
前記クリープ損傷解析手段により導出した前記クリープ損傷の損傷度合を、前記配管系に亘って識別可能に表示するクリープ損傷表示手段と、を備えたことを特徴とする配管系のクリープ損傷診断装置。
IPC (1件)：
FI (2件)：
Fターム (5件)：
2G061AB02
, 2G061CA01
, 2G061CB04
, 2G061CB18
, 2G061DA11
