特許
J-GLOBAL ID:201203035311929509

結晶の回折測定方法及びそのための回折測定装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 白洲 一新
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2010-289042
公開番号(公開出願番号):特開2012-137346
出願日: 2010年12月26日
公開日(公表日): 2012年07月19日
要約:
【課題】 本発明は、X線等による回折測定時の含水結晶の乾燥を防ぎ、適切な試料凍結を行う方法及びそのための装置の提供を目的とする。【解決手段】 結晶を水溶性ポリマーで包み込む工程を含む含水結晶のX線回折測定方法。【選択図】 図1
請求項(抜粋):
回折測定方法であって、結晶を水溶性ポリマーで包み込む工程を含む回折測定方法。
IPC (1件):
G01N 23/20
FI (1件):
G01N23/20
Fターム (16件):
2G001AA01 ,  2G001AA03 ,  2G001AA04 ,  2G001BA18 ,  2G001CA01 ,  2G001CA03 ,  2G001CA04 ,  2G001GA13 ,  2G001GA14 ,  2G001HA12 ,  2G001HA13 ,  2G001KA01 ,  2G001KA08 ,  2G001LA01 ,  2G001LA05 ,  2G001RA02
引用特許:
審査官引用 (4件)
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引用文献:
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