特許

J-GLOBAL ID：201203035717068890

光断層画像取得装置

発明者： 平井 靖士
出願人/特許権者： パナソニック株式会社
代理人 (1件)： 新樹グローバル・アイピー特許業務法人
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2011-271640
公開番号（公開出願番号）：特開2012-145568
出願日： 2011年12月12日
公開日（公表日）： 2012年08月02日
要約：

【課題】本発明は、歯科用などの光断層画像取得装置に関するもので、正確な断層画像を取得することを目的とするものである。【解決手段】本光断層画像取得装置では、表面検出処理部47は、2値化工程と、収縮工程と、膨張工程と、膨張処理された表示画像データより測定対象の表面を検出する表面検出工程と、表面検出工程で検出された測定対象の表面と、断層画像用演算部より得られた表示画像データを比較して、表示画像補正を行う補正工程と、を順次実行させる。【選択図】図18

請求項（抜粋）：

光源と、 前記光源から出た光を第1方向と第2方向とに分割する分割部と、 前記第1方向に分割された第1の光を測定対象に向けて照射し、前記測定対象からの反射光を測定光として取り込む光入出部を有するプローブと、 前記分割部において前記第2方向へ分割された第2の光の経路補正を行う参照鏡と、 前記参照鏡において経路補正された前記第2の光と前記プローブに測定光として取り込まれた前記第1の光とを干渉させて干渉光を生成する干渉部と、 前記干渉部において生成された干渉光を演算処理して測定対象の断層画像情報を生成する断層画像用演算部と、 前記断層画像用演算部から得られた表示画像データの輝度値を基準値に対して0と正規化基準値に2値化する2値化処理部と、2値化された表示画像データの所定画素の周辺画素の輝度値の少なくとも1画素でもその輝度値が0の場合には所定画素の輝度値を0とする収縮処理部と、収縮処理された表示画像データの所定画素の周辺画素の輝度値の少なくとも1画素でもその輝度値が正規化基準値の場合には所定画素の輝度値を正規化基準値とする膨張処理部と、膨張処理された表示画像データより測定対象の表面を検出する表面検出部と、前記表面検出処理部において検出された測定対象の表面と前記断層画像用演算部から得られた表示画像データとを比較して表示画像補正を行う補正処理部と、を有しており、前記断層画像用演算部の演算結果を出力する表面検出処理部と、 を備えている光断層画像取得装置。

IPC (3件)：

G01N 21/17 ,  A61B 1/00 ,  A61B 1/24

FI (3件)：

G01N21/17 630 ,  A61B1/00 300D ,  A61B1/24

Fターム (26件)：

2G059AA06 ,  2G059EE02 ,  2G059EE09 ,  2G059EE12 ,  2G059FF02 ,  2G059HH01 ,  2G059HH06 ,  2G059JJ06 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ15 ,  2G059KK04 ,  2G059MM01 ,  2G059MM09 ,  2G059PP04 ,  4C161AA08 ,  4C161BB08 ,  4C161CC07 ,  4C161HH51 ,  4C161MM10 ,  4C161NN01 ,  4C161QQ03 ,  4C161SS21 ,  4C161TT01 ,  4C161TT02 ,  4C161TT20 ,  4C161WW15