特許

J-GLOBAL ID：201203037799767491

計測用マーカ及びその製造方法

発明者： 谷田 和敏 ,  堀田 宏之 ,  佐口 泰之
出願人/特許権者： 富士ゼロックス株式会社
代理人 (2件)： 平田 忠雄 ,  遠藤 和光
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2010-246246
公開番号（公開出願番号）：特開2012-098161
出願日： 2010年11月02日
公開日（公表日）： 2012年05月24日
要約：

【課題】光源を内蔵せずに任意の方向から観測可能な位置計測用パターンを有する計測用マーカであって、計測用パターンの作製精度を維持しつつ従来と比べて製造工程を減少する計測用マーカ及びその製造方法を提供する。【解決手段】計測用マーカ1Aは、基材11と、基材11上に貼り合わされて照射光leを再帰反射する再帰反射材10と、照射光leを透過する複数の開口部14を有するパターンが印刷され、再帰反射材10上に貼り合わされる透明基材12とを有する。【選択図】図2

請求項（抜粋）：

板状の基材と、 前記基材上に設けられて照射光を再帰反射する再帰反射材と、 前記再帰反射材上に印刷により設けられて前記照射光を透過する複数の開口部を有するパターンとを有する計測用マーカ。

IPC (3件)：

G01B 11/00 ,  G02B 5/12 ,  G01B 11/26

FI (3件)：

G01B11/00 H ,  G02B5/12 ,  G01B11/26 H

Fターム (12件)：

2F065AA03 ,  2F065AA20 ,  2F065AA37 ,  2F065BB02 ,  2F065BB29 ,  2F065CC25 ,  2F065FF42 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL16 ,  2H042EA14 ,  2H042EA15