特許

J-GLOBAL ID：201203037824508820

光断層画像化装置、及び、その光プローブ押付力推定方法

発明者： 阿部 剛也
出願人/特許権者： 富士フイルム株式会社
代理人 (1件)： 松浦 憲三
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2010-149787
公開番号（公開出願番号）：特開2012-013520
出願日： 2010年06月30日
公開日（公表日）： 2012年01月19日
要約：

【課題】既存の光プローブを用いて測定対象への光プローブの押付力を確認することができる光断層画像化装置、及び、その光プローブ押付力推定方法を提供する。【解決手段】接触領域検出部484は、干渉信号から測定対象Sに対して光プローブ500が接触している領域を検出する。押付力推定部490は、接触領域検出部484で検出された接触領域の情報に基づいて、接触範囲の大きさを求める。そして、求めた接触範囲の大きさが、あらかじめ設定された適正範囲内か否かを判定して、測定対象Sに対する光プローブ500の押付力の適否を推定する。【選択図】 図4

請求項（抜粋）：

光源と、 前記光源から射出された光を測定光と参照光とに分岐する分岐手段と、 シース内に測定部を備え、該測定部から測定対象に向けて前記測定光を照射するとともに、その反射光を取得する光プローブと、 前記光プローブの測定部を回転させる駆動手段と、 前記光プローブの測定部で取得された反射光と前記参照光とを合波して干渉光を生成する合波手段と、 前記干渉光を干渉信号として検出する干渉光検出手段と、 前記干渉光検出手段によって検出された干渉信号から光断層画像を取得する光断層画像取得手段と、 前記測定対象に対する前記光プローブの接触領域を検出する接触領域検出手段と、 前記接触領域検出手段によって検出された接触領域の大きさに基づいて、前記測定対象に対する前記光プローブの押付力を推定する押付力推定手段と、 前記押付力推定手段で推定された前記光プローブの押付力を告知する告知手段と、 を備えたことを特徴とする光断層画像化装置。

IPC (2件)：

G01N 21/17 ,  A61B 1/00

FI (2件)：

G01N21/17 630 ,  A61B1/00 300D

Fターム (27件)：

2G059AA06 ,  2G059BB12 ,  2G059CC16 ,  2G059EE02 ,  2G059EE09 ,  2G059FF02 ,  2G059GG02 ,  2G059GG08 ,  2G059JJ05 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ13 ,  2G059JJ15 ,  2G059JJ17 ,  2G059JJ18 ,  2G059JJ30 ,  2G059LL01 ,  2G059MM01 ,  2G059MM03 ,  2G059MM05 ,  2G059MM10 ,  2G059NN04 ,  2G059PP02 ,  2G059PP04 ,  4C061HH52 ,  4C061HH53 ,  4C161HH52 ,  4C161HH53