特許

J-GLOBAL ID：201203041760606226

陽電子消滅特性測定装置及び陽電子消滅特性測定方法

発明者： 山脇 正人 ,  小林 慶規 ,  渡邊 吉弘 ,  服部 兼久
出願人/特許権者： 独立行政法人産業技術総合研究所 ,  東洋精鋼株式会社
代理人 (1件)： 特許業務法人快友国際特許事務所
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2011-252066
公開番号（公開出願番号）：特開2012-127942
出願日： 2011年11月17日
公開日（公表日）： 2012年07月05日
要約：

【課題】 被測定体(被測定物質)から試験片を切り出さなくても精度よく陽電子の消滅特性を測定する。【解決手段】 陽電子消滅特性測定装置10は、陽電子線源と、陽電子線源で生成された陽電子が消滅するときに発生する放射線を検出する放射線検出手段14と、陽電子線源で生成された陽電子のうち被測定体に入射されなかった陽電子を検出する陽電子検出手段40を有している。陽電子線源は、被測定体Sと陽電子検出手段とに挟まれた状態で配置されている。消滅特性算出手段50は、放射線検出手段14で検出される放射線のうち、陽電子検出手段40で検出された陽電子が消滅したときに発生したと推定される放射線を除いて、被測定体S内における陽電子の消滅特性を算出する。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

被測定体に入射されて被測定体内で消滅する陽電子の消滅特性を測定する陽電子消滅特性測定装置であり、 被測定体の表面に近接又は密着する位置に配置される陽電子線源と、 陽電子線源で生成された陽電子が消滅するときに発生する放射線を検出する第1放射線検出手段と、 陽電子線源で生成された陽電子のうち被測定体に入射されなかった陽電子を検出する陽電子検出手段と、 第1放射線検出手段の検出結果と、陽電子検出手段の検出結果に基づいて、被測定体内における陽電子の消滅特性を算出する消滅特性算出手段と、を有しており、 陽電子線源は、被測定体と陽電子検出手段とに挟まれた状態で配置されており、 消滅特性算出手段は、第1放射線検出手段で検出される放射線のうち、陽電子検出手段で検出された陽電子が消滅したときに発生したと推定される放射線を除いて、被測定体内における陽電子の消滅特性を算出する、陽電子消滅特性測定装置。

IPC (1件)：

G01N 23/22

FI (1件)：

G01N23/22

Fターム (11件)：

2G001AA08 ,  2G001BA28 ,  2G001CA02 ,  2G001DA01 ,  2G001DA02 ,  2G001EA02 ,  2G001EA08 ,  2G001FA21 ,  2G001GA01 ,  2G001GA03 ,  2G001KA03

引用特許：

審査官引用 (2件)

• 陽電子消滅γ線測定方法および装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2001-239200   出願人：株式会社東芝
• 特開平2-206786