特許

J-GLOBAL ID：201203046727070673

撮像装置

発明者： 桑田 知由己
出願人/特許権者： 株式会社ニコン
代理人 (2件)： 永井 冬紀 ,  渡辺 隆男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2011-045221
公開番号（公開出願番号）：特開2012-182731
出願日： 2011年03月02日
公開日（公表日）： 2012年09月20日
要約：

【課題】画角内の輝度差が大きい場合であっても正確なデプスマップを得られる撮像装置を提供する。【解決手段】所定の焦点面の近傍に二次元状に配置された複数の正レンズと、複数の正レンズの各々に対応して当該正レンズの後側に配置された複数の受光素子を有する第1の撮像素子と、複数の正レンズの各々について、前記第1の撮像素子の出力から、当該正レンズに像が結ばれた被写体までの距離を表す値を算出する距離算出手段と、第1の撮像素子に複数回の撮像をそれぞれ異なる電荷蓄積時間で連続して行わせる制御手段と、前記第1の撮像素子により連続して行われた複数回の撮像の各々についてデプスマップを作成するデプスマップ作成手段と、デプスマップ作成手段により作成された複数回の撮像にそれぞれ対応する複数のデプスマップを合成して合成デプスマップを作成する合成手段と、を備える撮像装置。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

被写体像が結像される所定の焦点面の近傍に二次元状に配置された複数の正レンズと、 前記複数の正レンズの各々に対応して当該正レンズの後側に配置された複数の受光素子を有する第1の撮像素子と、 前記複数の正レンズの各々について、前記第1の撮像素子の出力から、当該正レンズに像が結ばれた被写体までの距離を表す値を算出する距離算出手段と、 前記第1の撮像素子に複数回の撮像をそれぞれ異なる電荷蓄積時間で連続して行わせる制御手段と、 前記距離算出手段により算出された複数の距離を表す値を当該値に対応する正レンズの位置に応じて二次元状に配列したデータであるデプスマップを、前記第1の撮像素子により連続して行われた複数回の撮像の各々について作成するデプスマップ作成手段と、 前記デプスマップ作成手段により作成された複数回の撮像にそれぞれ対応する複数の前記デプスマップを合成して合成デプスマップを作成する合成手段と、 を備えることを特徴とする撮像装置。

IPC (6件)：

H04N 5/232 ,  H04N 5/225 ,  G02B 7/34 ,  G02B 7/28 ,  G03B 13/36 ,  G01C 3/06

FI (8件)：

H04N5/232 Z ,  H04N5/225 D ,  H04N5/232 H ,  G02B7/11 C ,  G02B7/11 N ,  G03B3/00 A ,  G01C3/06 140 ,  G01C3/06 120P

Fターム (27件)：

2F112AB07 ,  2F112CA08 ,  2F112CA12 ,  2F112DA04 ,  2F112DA08 ,  2F112DA19 ,  2F112DA28 ,  2F112FA03 ,  2F112FA07 ,  2F112FA21 ,  2F112FA45 ,  2F112FA50 ,  2H011BA23 ,  2H011DA00 ,  2H151BA06 ,  2H151CB20 ,  2H151DA34 ,  2H151EB20 ,  5C122FB02 ,  5C122FB05 ,  5C122FD03 ,  5C122FD10 ,  5C122FF26 ,  5C122GE05 ,  5C122GE11 ,  5C122HB01 ,  5C122HB02