特許
J-GLOBAL ID：201203046949355862
X線診断装置
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (1件)：
特許業務法人東京国際特許事務所
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2010-283568
公開番号（公開出願番号）：特開2012-130436
出願日： 2010年12月20日
公開日（公表日）： 2012年07月12日
要約：
【課題】被検体における特定箇所へのX線の被曝量の増加を防ぐことができるX線診断装置を提供する。【解決手段】実施形態のX線診断装置は、被検体にX線を照射するX線照射部と、前記X線照射部に対向し、前記X線を受像するX線受像部と、前記X線受像部で受像した投影画像データを画像処理する画像処理部と、前記画像処理部で画像処理した画像データを記憶する画像データ記憶部と、前記画像データ記憶部で記憶した画像データから、前記X線の照射位置に関する付帯情報を取得する付帯情報取得部と、前記付帯情報取得部で取得した、複数の前記画像データにおける付帯情報に基づき、複数のX線が集中している部分を関心部位として特定する関心部位特定部と、を有することを特徴とする。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
被検体にX線を照射するX線照射部と、
前記X線照射部に対向し、前記X線を受像するX線受像部と、
前記X線受像部で受像した投影画像データを画像処理する画像処理部と、
前記画像処理部で画像処理した画像データを記憶する画像データ記憶部と、
前記画像データ記憶部で記憶した画像データから、前記X線の照射位置に関する付帯情報を取得する付帯情報取得部と、
前記付帯情報取得部で取得した、複数の前記画像データにおける付帯情報に基づき、複数のX線が集中している部分を関心部位として特定する関心部位特定部と、
を有することを特徴とするX線診断装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (13件)：
4C093AA08
, 4C093CA34
, 4C093DA02
, 4C093EC16
, 4C093FA18
, 4C093FA43
, 4C093FA55
, 4C093FB20
, 4C093FD11
, 4C093FF21
, 4C093FF22
, 4C093FF28
, 4C093FH03
