特許
J-GLOBAL ID：201203050129400100

水無害化処理装置

発明者：
丹下 智陽

丹下 智陽 について


出願人/特許権者：
三浦工業株式会社

三浦工業株式会社 について


代理人 (2件)： 大塚 明博 ,  川島 晃一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2011-088801
公開番号（公開出願番号）：特開2012-217966
出願日： 2011年04月13日
公開日（公表日）： 2012年11月12日
要約：
【課題】 電気分解処理法と紫外線処理法の短所を、それぞれの長所で補い合うようにして効率よく且つ低コストで被処理水の無害化処理を行えるようにした水無害化処理装置を得る。【解決手段】 水中の微生物を殺滅する水無害化処理装置であって、被処理水の塩分濃度を測定する塩分濃度測定手段2と、被処理水の濁度を測定する濁度測定手段3と、被処理水を電気分解することにより被処理水から塩素含有物質を生成し、この塩素含有物質により被処理水を処理する電解処理装置4と、被処理水または電解処理装置4で処理した処理水に紫外線を照射して処理する紫外線照射装置5aを内蔵した紫外線処理装置5と、被処理水の塩分濃度および濁度の測定値に応じて電解処理装置4および紫外線照射装置5aの出力を調整する制御手段6を備えた。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
水中の微生物を殺滅する水無害化処理装置であって、被処理水の塩分濃度を測定する塩分濃度測定手段と、被処理水の濁度を測定する濁度測定手段と、被処理水を電気分解することにより被処理水から塩素含有物質を生成し、この塩素含有物質により被処理水を処理する電解処理装置と、被処理水または前記電解処理装置で処理した処理水に紫外線を照射して処理する紫外線照射装置を内蔵した紫外線処理装置と、被処理水の塩分濃度および濁度の測定値に応じて前記電解処理装置および前記紫外線照射装置の出力を調整する制御手段を備えたことを特徴とする水無害化処理装置。
IPC (4件)：
C02F 1/46 ,  C02F 1/76 ,  C02F 1/32 ,  C02F 1/72
FI (4件)：
C02F1/46 Z ,  C02F1/76 A ,  C02F1/32 ,  C02F1/72 101
Fターム (36件)：
4D037AA06 ,  4D037AA11 ,  4D037AB03 ,  4D037BA18 ,  4D037BB01 ,  4D037BB02 ,  4D037CA02 ,  4D037CA04 ,  4D037CA14 ,  4D050AA06 ,  4D050AA13 ,  4D050AA15 ,  4D050AB06 ,  4D050BB04 ,  4D050BC09 ,  4D050BD04 ,  4D050BD06 ,  4D050BD08 ,  4D050CA10 ,  4D050CA13 ,  4D050CA15 ,  4D061DA04 ,  4D061DA08 ,  4D061DB10 ,  4D061EA02 ,  4D061EB01 ,  4D061EB04 ,  4D061EB37 ,  4D061EB39 ,  4D061FA07 ,  4D061FA11 ,  4D061FA13 ,  4D061GA05 ,  4D061GA06 ,  4D061GA20 ,  4D061GC14
引用特許：
出願人引用 (5件)
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審査官引用 (5件)
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