特許
J-GLOBAL ID：201203055950274646
分析装置、センサの検査装置、検査方法、及び検査プログラム
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (3件)：
中島 淳
, 加藤 和詳
, 福田 浩志
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2011-286060
公開番号（公開出願番号）：特開2012-176229
出願日： 2011年12月27日
公開日（公表日）： 2012年09月13日
要約：
【課題】複数の電極を設けることなく、短時間で安定してセンサの状態を検査する。【解決手段】検査モードにおいて、ブドウ糖に起因する応答が得られる応答電圧E2を印加し、応答電圧E2印加直後から応答電流の変化量ΔIを所定のサンプリング間隔で計測し、応答電流の変化量ΔIが変化量閾値ΔIthより小さくなる時間Tを計測する。正常なセンサの応答電流の変化量に基づいて予め求めた時間閾値Tthより計測した時間Tが小さい場合には、センサの外層膜に欠陥が生じていると判定する。また、予め定めた時間Tと欠陥割合との関係、及び欠陥割合と正常センサに対する感度正誤差との関係に基づいて、測定モードにおいて測定される応答電流値を補正するための補正値を算出する。【選択図】図8
請求項（抜粋）：
試料液中の被検成分と反応する試薬を含む試薬層、該試薬層に電圧を印加するための第1電極及び第2電極を含む電極部、並びに該試薬層と接触する外層膜を含んで構成されたセンサ部と、
前記第1電極と前記第2電極との間に、前記被検成分に起因する応答が得られる第1の電圧、及び前記被検成分に起因する応答が全くまたは実質的に得られない第2の電圧の少なくとも一方を印加する電圧印加手段と、
前記第1電極と前記第2電極との間に流れる電流を測定する電流測定手段と、
前記電流測定手段により、前記第1の電圧が印加された際に測定された第1の電流の所定時間当たりの変化量に関する第1の物理量、及び前記第2の電圧が印加された際に測定された第2の電流の所定時間当たりの変化量に関する第2の物理量の少なくとも一方に基づいて、前記外層膜の欠陥の有無を判定する判定手段と、
を含む分析装置。
IPC (5件)：
A61B 5/147
, G01N 27/416
, G01N 27/26
, G01N 27/30
, A61B 5/148
A61B5/14 331
, G01N27/46 336M
, G01N27/46 338
, G01N27/46 336C
, G01N27/46 336B
, G01N27/26 371A
, G01N27/26 371F
, G01N27/26 381A
, G01N27/30 A
, A61B5/14 340
4C038KK10
, 4C038KL01
, 4C038KL09
, 4C038KM03
, 4C038KY04
, 4C038KY11
