ガス分析装置、水銀除去システム、ガス分析方法及び排ガス中の水銀除去方法

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出願人/特許権者：
代理人 (2件)：酒井宏明 , 高村順
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2010-217909
公開番号（公開出願番号）：特開2012-073106
出願日： 2010年09月28日
公開日（公表日）： 2012年04月12日
要約：

【課題】排ガス中に含まれるCl-濃度を測定することができるガス分析装置、水銀除去システム、ガス分析方法及び排ガス中の水銀除去方法を提供する。【解決手段】本実施形態に係るガス分析装置10は、NH4Cl、SO3の両方を含む排ガス11が送給される煙道12から排ガス11Aを抜出す排ガス抜出し管13と、排ガス抜出し管13に設けられ、抜出した排ガス11A中に含まれる煤塵を除去する捕集器14と、排ガス抜出し管13に設けられ、排ガス11A中に含まれるNH4Cl、SO3の両方を析出させるロールフィルタ15と、ロールフィルタ15で析出されたNH4Cl、SO3の両方を含む試料にX線を照射させて試料から発生する蛍光X線を検出して排ガス11A中に含まれるNH4Cl、SO3の両方を測定する測定装置19とを含む。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

ボイラから排出され、塩化アンモニウムを供給した排ガスを煙道から抜出す排ガス抜出し管と、前記排ガス抜出し管に設けられ、抜出した排ガス中に含まれる煤塵を除去する煤塵除去手段と、前記排ガス抜出し管に設けられ、前記排ガス中に含まれる塩化アンモニウムを析出させる析出手段と、前記析出手段で析出された塩化アンモニウムにX線またはレーザ光を照射させて発生する蛍光X線を検出して、排ガス中に含まれる塩化アンモニウムを測定する測定手段とを含むことを特徴とするガス分析装置。

IPC (9件)：

G01N 23/223 , B01D 53/50 , B01D 53/77 , B01D 53/64 , B01D 53/56 , B01D 53/74 , G01N 1/22 , G01N 31/00 , B01D 53/86

FI (9件)：

G01N23/223 , B01D53/34 125E , B01D53/34 136A , B01D53/34 129E , G01N1/22 D , G01N31/00 Y , G01N31/00 A , G01N31/00 P , B01D53/36 B

Fターム (61件)：

2G001AA01 , 2G001BA04 , 2G001CA01 , 2G001KA01 , 2G001MA01 , 2G001NA20 , 2G001PA01 , 2G001PA11 , 2G001QA03 , 2G001RA05 , 2G042AA01 , 2G042BB12 , 2G042BB20 , 2G042CA01 , 2G042CB01 , 2G042EA07 , 2G052AA02 , 2G052AB01 , 2G052AC25 , 2G052BA14 , 2G052CA04 , 2G052EA03 , 2G052EA06 , 2G052ED03 , 2G052GA19 , 2G052HC09 , 2G052HC28 , 4D002AA02 , 4D002AA12 , 4D002AA29 , 4D002AC10 , 4D002BA02 , 4D002BA05 , 4D002BA06 , 4D002CA01 , 4D002CA07 , 4D002CA11 , 4D002DA05 , 4D002DA07 , 4D002DA16 , 4D002DA70 , 4D002EA02 , 4D002GA02 , 4D002GA03 , 4D002GB02 , 4D002GB03 , 4D002GB06 , 4D002HA08 , 4D048AA02 , 4D048AA14 , 4D048AA16 , 4D048AB02 , 4D048AC05 , 4D048CC42 , 4D048CC61 , 4D048CD02 , 4D048CD03 , 4D048DA01 , 4D048DA02 , 4D048DA03 , 4D048DA10

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