特許

J-GLOBAL ID：201203058504997420

光電池エレメントの欠陥を位置特定し、不動化するためのシステムおよび方法

発明者： オラフ トーバー ,  ユルゲン ペンドルフ ,  ヴォルフガング ブラウアー
出願人/特許権者： オーダーサン アクチエンゲゼルシャフト
代理人 (7件)： 久野 琢也 ,  矢野 敏雄 ,  高橋 佳大 ,  星 公弘 ,  二宮 浩康 ,  篠 良一 ,  アインゼル・フェリックス=ラインハルト
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2011-524390
公開番号（公開出願番号）：特表2012-501085
出願日： 2009年08月28日
公開日（公表日）： 2012年01月12日
要約：

本発明は、光電池エレメント(100)においてリーク電流を引き起こす欠陥を位置特定するためのシステムおよび方法、ならびに光電池エレメントにおいてリーク電流を引き起こす欠陥を不動態化するためのシステムおよび方法、さらにオープンリール光電池エレメントにおいてシャントを不動態化するためのシステムおよび方法に関するものであり、光電池エレメントの少なくとも最小の面積を有するエリア(130)を照明するステップと、光電池エレメントの一方の電極にある照明エリア内の少なくとも1つの特定の測定位置で、照明された光電池エレメントの2つの電極に接触接続することにより、少なくとも1つの光誘発電気値を測定するステップと、光電池エレメントの欠陥の位置を、測定された少なくとも1つの光誘発電気値と、少なくとも1つの特定の測定位置に基づいて特定するステップとを有する。

請求項（抜粋）：

光電池エレメントにおいてリーク電流を引き起こす欠陥を位置特定するための方法であって、 (i)光電池エレメントの少なくとも最小面積を有するエリアを照明するステップと、 (ii)光電池エレメントの一方の電極上にある照明エリア内の少なくとも1つの特定の測定位置で、照明された光電池エレメントの2つの電極に接触接続することにより、少なくとも1つの光誘発電気値を測定するステップと、 (iii)光電池エレメントの欠陥の位置を、測定された少なくとも1つの光誘発電気値と、少なくとも1つの特定の測定位置に基づいて特定するステップと を有する方法。

IPC (2件)：

H01L 31/04 ,  G01R 31/26

FI (2件)：

H01L31/04 K ,  G01R31/26 F

Fターム (5件)：

2G003AA06 ,  2G003AB05 ,  2G003AB18 ,  5F151KA08 ,  5F151KA09

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 特開昭58-158977
  
• 光起電力場における局在分路欠陥を検出し除去する方法及び装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2006-173544   出願人：ケイエルエイ-テンコー・テクノロジーズ・コーポレーション
• 光起電性素子における製造エラーを局所化する装置
  公報種別：公表公報   出願番号：特願2001-529029   出願人：スティックティング・エネルギーオンデルズーク・セントルム・ネーデルランド
• 特開昭58-158977