特許
J-GLOBAL ID:201203061775539534
溶接表面の欠陥検査方法
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件):
矢野 寿一郎
, 正津 秀明
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2010-136597
公開番号(公開出願番号):特開2012-002605
出願日: 2010年06月15日
公開日(公表日): 2012年01月05日
要約:
【課題】溶接部表面の溶接欠陥を短時間かつ定量的に検査可能である溶接表面の欠陥検査方法を提供する。【解決手段】被検査物であるワーク1の溶接部6表面に発生した溶接欠陥2を検査するための溶接表面の欠陥検査方法であって、画像撮像手段であるカメラ3により前記ワーク1の溶接部6表面の画像を撮像し、当該撮像された画像の濃淡判別を行って、前記溶接部6表面における溶接欠陥2の位置を検出する溶接欠陥検出工程と、前記溶接部6表面の同一位置にある溶接欠陥2に対して複数のレーザ変位計4a、4bを用いて変位量を測定する変位量測定工程と、を有する。【選択図】図1
請求項(抜粋):
被検査物の溶接部表面に発生した溶接欠陥を検査するための溶接表面の欠陥検査方法であって、
画像撮像手段により前記被検査物の溶接部表面の画像を撮像し、当該撮像された画像の濃淡判別を行って、前記溶接部表面における溶接欠陥の位置を検出する溶接欠陥検出工程と、
前記溶接部表面の所定位置にある溶接欠陥に対して複数のレーザ変位計を用いて変位量を測定する変位量測定工程と、
を有することを特徴とする溶接表面の欠陥検査方法。
IPC (3件):
G01N 21/88
, G01B 11/30
, B23K 31/00
FI (4件):
G01N21/88 Z
, G01B11/30 A
, B23K31/00 L
, B23K31/00 K
Fターム (26件):
2F065AA03
, 2F065AA49
, 2F065AA53
, 2F065BB05
, 2F065CC15
, 2F065FF04
, 2F065FF09
, 2F065GG04
, 2F065HH05
, 2F065JJ03
, 2F065JJ05
, 2F065JJ08
, 2F065JJ26
, 2F065MM03
, 2F065MM16
, 2F065PP22
, 2F065QQ04
, 2F065QQ31
, 2G051AA90
, 2G051AB07
, 2G051AB14
, 2G051AC02
, 2G051BA10
, 2G051CA04
, 2G051CB01
, 2G051ED01
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