特許

J-GLOBAL ID：201203068788150460

RAM故障診断装置、そのプログラム

発明者： 西田 廣治
出願人/特許権者： 富士電機株式会社
代理人 (1件)： 大菅 義之
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2010-254250
公開番号（公開出願番号）：特開2012-104064
出願日： 2010年11月12日
公開日（公表日）： 2012年05月31日
要約：

【課題】RAM故障を確実にかつ早期に検出する。【解決手段】安全関連アプリケーション処理11による安全関連データ領域21内の安全関連データへのアクセス時に、安全関連データアクセス関数13によって当該安全関連データの格納領域に関してダブルRAM方式のRAM診断を行う。これに加えて、RAMテストパターン診断処理12によって、定期的に、各安全関連データの格納領域等に対して、複数のテストパターンを用いたRAM診断を行う。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

1以上の安全関連データを格納する安全関連データ格納領域を有するRAMの故障診断を行うRAM診断装置であって、 任意の前記安全関連データに関するアクセス処理の際に、ダブルRAM方式によるRAM診断処理を行うダブルRAM方式診断手段と、 定期的に、少なくとも前記各安全関連データの格納領域を含む各診断対象記憶領域毎に、その診断対象記憶領域内の各アドレスを順次診断対象アドレスとして、該各診断対象アドレス毎に、複数のテストデータの書き込みと、該診断対象アドレスからのデータ読み出し及びテストデータとの一致確認を行うことによって、診断対象アドレスの診断を行うテストパターン方式診断手段と、 を有することを特徴とするRAM故障診断装置。

IPC (1件)：

G06F 12/16

FI (1件)：

G06F12/16 330C

Fターム (6件)：

5B018GA03 ,  5B018HA01 ,  5B018JA12 ,  5B018NA01 ,  5B018QA04 ,  5B018QA16