特許

J-GLOBAL ID：201203069116774381

分析装置、分析プログラム及び分析方法

発明者： 杉山 幸司 ,  白木 裕章
出願人/特許権者： アークレイ株式会社
代理人 (1件)： 特許業務法人池内・佐藤アンドパートナーズ
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-007217
公開番号（公開出願番号）：特開2012-163556
出願日： 2012年01月17日
公開日（公表日）： 2012年08月30日
要約：

【課題】着脱可能な測定用デバイスを用いた測定において、測定用デバイス交換時の校正の煩雑さを低減する。【解決手段】分析装置1は、装着された測定用デバイス4の識別子を取得する識別データ取得部13と、測定用デバイス4の校正データと測定用デバイスの識別子とを対応付けて記録手段3に記録する校正部11と、検出器2による測定対象成分の検出により得られる測定データと、識別データ取得部13が取得した測定用デバイスの識別子に対応付けられた校正データとを用いて、測定対象成分に関する情報を示す値を計算する演算部12と、を備える。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

試料を測定可能な状態で保持する、着脱可能な測定用デバイスに保持された前記試料の測定対象成分を検出する検出器を制御して、測定データを取得し、前記測定対象成分を分析する分析装置であって、 分析装置に装着された測定用デバイスの識別子を取得する識別データ取得部と、 校正データと、前記測定用デバイスの識別子とを対応付けて、前記分析装置に設けられた記録手段及び前記分析装置からアクセス可能な記録手段の少なくとも一方に、記録する校正部と、 前記検出器による前記測定対象成分の検出により得られる測定データと、識別データ取得部が取得した測定用デバイスの識別子に対応付けられ前記記録手段に記録された校正データとを用いて、前記測定対象成分に関する情報を示す値を計算する演算部と、を備える分析装置。

IPC (1件)：

G01N 27/26

FI (4件)：

G01N27/26 381A ,  G01N27/26 371D ,  G01N27/26 371F ,  G01N27/26 371Z