特許
J-GLOBAL ID：201203074407803684
粒状材料の分割式粒度計測方法及びシステム
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
市東 篤
, 市東 禮次郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2011-109125
公開番号（公開出願番号）：特開2012-242099
出願日： 2011年05月16日
公開日（公表日）： 2012年12月10日
要約：
【課題】大粒径の粒状材を含む粒状材料の分割式粒度を短時間で精度よく計測する方法及びシステムを提供する。 【解決手段】粒径dの異なる粒状材sが混在した粒状材料Sを複数に分割して各分割粒状材群Sjの撒き出し画像Gjを撮影し、その撒き出し画像Gj毎に各粒状材sの輪郭から面積e及び粒径dと粒状材全体の投影面積Ejとを検出し、前記画像Gj毎の各粒状材sの粒径dから所定粒径diの加積通過率Pj(di)を算出し、撒き出し画像Gj毎の投影面積Ejで重み付けした所定粒径diの加積通過率Pj(di)の全画像にわたる面積平均値(=(ΣPj(di)・Ej)/ΣEj)により分割前の粒状材料Sの所定粒径diの加積通過率P(di)を計測する。好ましくは各分割粒状材群Sjを一定面密度又は一定厚さに撒き出し、望ましくは各分割粒状材群Sjを粒状材料S中の粒状材の最大粒径の1〜3倍長さを一辺とする矩形面積で撒き出す。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
粒径の異なる粒状材が混在した粒状材料Sを複数に分割して各分割粒状材群の撒き出し画像Gjを撮影し、前記画像Gj毎に各粒状材の輪郭から面積e及び粒径dと粒状材全体の投影面積Ejとを検出し、前記画像Gj毎の各粒状材の粒径dから所定粒径diの加積通過率Pj(di)を算出し、前記画像Gj毎の投影面積Ejで重み付けした所定粒径diの加積通過率Pj(di)の全画像にわたる面積平均値により前記分割前の粒状材料Sの所定粒径diの加積通過率P(di)を計測してなる粒状材料の分割式粒度計測方法。
IPC (1件)：
FI (1件)：
引用特許：
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