特許

J-GLOBAL ID：201203074599795884

類似度評価装置及び方法

発明者： 今野 智明 ,  徐 建鋒 ,  酒澤 茂之
出願人/特許権者： KDDI株式会社
代理人 (3件)： 田中 香樹 ,  阪本 清孝 ,  田邉 壽二
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2011-119112
公開番号（公開出願番号）：特開2012-247991
出願日： 2011年05月27日
公開日（公表日）： 2012年12月13日
要約：

【課題】模範時系列データに対する評価対象時系列データの類似度を、個別パターン区間毎に逐次的に評価する類似度評価装置を提供する。【解決手段】模範時系列データは予め時系列上の所定箇所で個別パターンの区間Yi(i=1,...,n)に分割され、区間ごとに特徴量時系列yi(i=1,...,n)を抽出しておく。類似度評価装置1は、順次入力される評価対象時系列データの類似度を、所定分割と同間隔をなす評価対象個別パターン区間Xi(i=1,...,n)ごとに順次評価するため、個別区間Xiより、模範時系列データより予め抽出されたのと同種の特徴量時系列xiを抽出する特徴量抽出部2と、個別区間Xiの特徴量時系列xiと、模範個別パターン区間Yiの特徴量時系列yiとの類似度を求める類似度算出部4とを備えて提供される。特徴量には主成分得点を利用してもよい。【選択図】図2

請求項（抜粋）：

予め時系列上の所定箇所で個別パターンの区間Yi(i=1,...,n)に分割され、当該区間Yiの特徴量時系列yi(i=1,...,n)が抽出された所定の模範時系列データに対して、順次入力される評価対象時系列データの類似度を、前記所定箇所による分割と同間隔をなす評価対象個別パターン区間Xi(i=1,...,n)ごとに順次評価する類似度評価装置(ここでiは時系列上の順番を表す添字、nは所与の自然数とする)であって、 前記順次入力される評価対象個別パターン区間Xiより、前記模範時系列データより予め抽出されたのと同種の特徴量時系列xiを抽出する特徴量抽出部と、 前記評価対象個別パターン区間Xiの特徴量時系列xiと、前記模範時系列データの個別パターン区間Yiの特徴量時系列yiとの類似度を求める類似度算出部とを備えることを特徴とする類似度評価装置。

IPC (1件)：

G06T 7/20

FI (1件)：

G06T7/20 300Z

Fターム (6件)：

5L096AA06 ,  5L096CA04 ,  5L096HA02 ,  5L096HA07 ,  5L096JA03 ,  5L096JA11