特許
J-GLOBAL ID：201203079437872160
劣化診断装置及び劣化診断方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (3件)：
高田 守
, 高橋 英樹
, 小澤 次郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2011-016069
公開番号（公開出願番号）：特開2012-154870
出願日： 2011年01月28日
公開日（公表日）： 2012年08月16日
要約：
【課題】膨大なデータベースを構築する必要がなく、電線の劣化度を容易に且つ正確に診断することができる劣化診断装置を提供する。【解決手段】本劣化診断装置は、Lab表示系で色彩を測定するための色彩色度計5と、電線を通すための開口が形成された箱体10と、箱体10の内部に設けられた光源11と、開口を通って箱体10の内部に配置された電線を固定するための固定装置12とを備える。そして、固定装置12に固定された未使用電線の白色の絶縁層3の色彩を、光源11を発光させた状態で色彩色度計5によって測定した場合に、bの値が0.5以上3.0以下となるように、各構成の位置関係や光源11の仕様等を調整しておく。【選択図】図4
請求項（抜粋）：
Lab表示系で色彩を測定するための色彩測定装置と、
電線を通すための開口が形成された箱体と、
前記箱体の内部に設けられた光源と、
前記開口を通って前記箱体の内部に配置された電線を固定するための固定装置と、
を備え、
前記固定装置に固定された未使用電線の白色の絶縁層の色彩を、前記光源を発光させた状態で前記色彩測定装置によって測定した場合に、bの値が0.5以上3.0以下となるように調整された劣化診断装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
Fターム (10件)：
2G050AA01
, 2G050BA10
, 2G050CA01
, 2G050EA01
, 2G050EB07
, 2G051AA44
, 2G051AB20
, 2G051CB01
, 2G051EA17
, 2G051EA24
