特許
J-GLOBAL ID:201203079734542918

X線蛍光分析器における自動サムピーク抑制

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (7件): 辻居 幸一 ,  熊倉 禎男 ,  弟子丸 健 ,  井野 砂里 ,  松下 満 ,  倉澤 伊知郎 ,  山本 泰史
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2011-540905
公開番号(公開出願番号):特表2012-512394
出願日: 2009年12月10日
公開日(公表日): 2012年05月31日
要約:
サムピークを自動的に抑制するX線蛍光(XRF)分析器を作動させる方法を開示する。本方法は、試料を照射して最初のエネルギスペクトルを取得する段階を含む。エネルギスペクトルは、着目元素の特徴的蛍光ピークを妨害するサムピークを識別するように処理される。識別されたサムピークに寄与する放射線を減衰させるフィルタが放出放射線経路に位置決めされ、フィルタリング済みのエネルギスペクトルが得られる。ある一定の実施形態では、フィルタリング済みエネルギスペクトルは、最初のエネルギスペクトルから計算された着目元素の検出限界(LOD)がターゲット目標を満たさない時にのみ得られる。【選択図】図2
請求項(抜粋):
XRF分析器を作動させる方法であって、 X線放射線の1次ビームを試料上に向ける段階と、 前記試料から放出された放射線を検出する段階と、 前記検出された放射線のエネルギスペクトルを構成する段階と、 着目元素の特徴的ピークに重なる前記エネルギスペクトルにおけるサムピークを識別する段階と、 前記識別されたサムピークに寄与するエネルギの放射線の通過を少なくとも部分的に阻止するフィルタを前記放出放射線の経路に位置決めする段階と、 前記フィルタリング済み放射線を検出し、前記検出されたフィルタリング済み放射線のフィルタリング済みスペクトルを構成する段階と、を備えることを特徴とする方法。
IPC (1件):
G01N 23/223
FI (1件):
G01N23/223
Fターム (15件):
2G001AA01 ,  2G001BA04 ,  2G001CA01 ,  2G001EA03 ,  2G001EA06 ,  2G001FA06 ,  2G001FA17 ,  2G001FA30 ,  2G001GA01 ,  2G001GA09 ,  2G001HA01 ,  2G001JA16 ,  2G001KA01 ,  2G001NA11 ,  2G001NA17

前のページに戻る