特許

J-GLOBAL ID：201203080983711361

X線撮像装置およびX線撮像方法

発明者： 大内 千種 ,  長井 健太郎 ,  田 透 ,  伊藤 英之助
出願人/特許権者： キヤノン株式会社
代理人 (2件)： 阿部 琢磨 ,  黒岩 創吾
公報種別：再公表公報
出願番号（国際出願番号）：JP2009068434
公開番号（公開出願番号）：WO2010-050483
出願日： 2009年10月27日
公開日（公表日）： 2010年05月06日
要約：

少なくとも1回の撮像から、被検体の微分位相像または位相像を取得することができるX線撮像装置およびX線撮像方法を提供する。 本発明に係るX線撮像装置は、位相格子130と吸収格子150と検出器170と演算装置180を有する。演算装置180は、検出器で取得したモアレの強度分布をフーリエ変換することにより、空間周波数スペクトルを取得するフーリエ変換工程を実行する。また、フーリエ変換工程により得られた空間周波数スペクトルから、キャリア周波数に対応したスペクトルを分離し、逆フーリエ変換を用いて微分位相像を取得する位相回復工程を実行する。

請求項（抜粋）：

X線源と、 前記X線源からのX線を透過させることにより、タルボ効果による干渉強度分布を形成する位相格子と、 前記位相格子により形成された干渉強度分布の一部を遮光することによりモアレを生じさせる吸収格子と、 前記吸収格子により生じたモアレの強度分布を検出する検出器と、 前記検出器により検出されたモアレの強度分布から被検体の情報を画像化し、出力する演算装置を有し、 前記演算装置は、 前記検出器で取得したモアレの強度分布をフーリエ変換することにより、空間周波数スペクトルを取得するフーリエ変換工程と、 前記フーリエ変換工程により得られた空間周波数スペクトルから、キャリア周波数に対応したスペクトルを分離し、逆フーリエ変換を用いて微分位相像を取得する位相回復工程と、を実行するように構成されていることを特徴とするX線撮像装置。

IPC (2件)：

G01N 23/04 ,  A61B 6/00

FI (2件)：

G01N23/04 ,  A61B6/00 330Z

Fターム (23件)：

2G001AA01 ,  2G001BA11 ,  2G001BA18 ,  2G001CA01 ,  2G001DA09 ,  2G001EA01 ,  2G001EA20 ,  2G001GA01 ,  2G001GA06 ,  2G001HA07 ,  2G001HA13 ,  2G001HA20 ,  2G001KA01 ,  2G001LA01 ,  4C093AA07 ,  4C093AA14 ,  4C093CA18 ,  4C093CA21 ,  4C093EA12 ,  4C093EB30 ,  4C093FD05 ,  4C093FD11 ,  4C093FD20