特許
J-GLOBAL ID：201203083380492966
部品実装方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (3件)：
内藤 浩樹
, 永野 大介
, 藤井 兼太郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2010-156882
公開番号（公開出願番号）：特開2012-019144
出願日： 2010年07月09日
公開日（公表日）： 2012年01月26日
要約：
【課題】簡易的な構成で処理時間の負荷増を招くことなく、位置検出用の認識マークの誤認識に起因する不具合を減少させることができる部品実装方法を提供することを目的とする。【解決手段】基板3に形成された2つの認識マークM1,M2をそれぞれ撮像して位置認識して得られた2つの位置ずれベクトルd1、位置ずれベクトルd2を比較して、位置ずれ傾向の差異が予め設定された許容範囲を超えているか否かを判定する。ここで位置ずれ傾向の差異が許容範囲を超えているならばいずれかの認識マークを誤認識したと判断して、2つの認識マークM1,M2を再度基板認識カメラによって撮像した認識画像を作業者が目視によって観察して所定の位置教示操作を実行し、この位置教示結果に基づいて電子部品を基板に実装する部品実装工程を実行する。【選択図】図5
請求項（抜粋）：
第1の認識マークおよび第2の認識マークを少なくとも含む複数の認識マークが形成された基板に電子部品を実装する部品実装方法であって、
前記第1の認識マークをカメラによって撮像して位置認識することにより、前記第1の認識マークの正規位置からの位置ずれの方向および量を示す第1の位置ずれ情報を検出する第1のマーク認識工程と、
前記第2の認識マークをカメラによって撮像して位置認識することにより、前記第2の認識マークの正規位置からの位置ずれの方向および量を示す第2の位置ずれ情報を検出する第2のマーク認識工程と、
前記第1の位置ずれ情報および第2の位置ずれ情報を比較することにより、両者の位置ずれ傾向の差異が予め設定された許容範囲を超えているか否かを判定する位置ずれ傾向判定工程とを含み、
前記位置ずれ傾向判定工程において、前記位置ずれ傾向の差異が前記許容範囲内であるならば、前記第1の位置ずれ情報および第2の位置ずれ情報から導出された基板位置に基づき部品実装位置を補正して前記電子部品を基板に実装する部品実装工程を実行し、
前記位置ずれ傾向判定工程において、前記位置ずれ傾向の差異が前記許容範囲を超えているならば、前記第1の認識マークおよび第2の認識マークを再度カメラによって撮像した認識画像を作業者が目視によって観察して所定の位置教示操作を実行することにより当該第1の認識マークおよび第2の認識マークの位置を教示し、この位置教示結果に基づいて前記電子部品を基板に実装する部品実装工程を実行することを特徴とする部品実装方法。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (10件)：
5E313AA01
, 5E313AA11
, 5E313AA15
, 5E313DD01
, 5E313DD02
, 5E313DD03
, 5E313DD31
, 5E313EE24
, 5E313FF28
, 5E313FF32
