特許

J-GLOBAL ID：201203092000063692

測定設定データ作成装置、測定設定データ作成方法及び測定設定データ作成装置用のプログラム

発明者： 大庭 隼人 ,  成瀬 崇志
出願人/特許権者： 株式会社キーエンス
代理人 (1件)： 大槻 聡
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2010-175052
公開番号（公開出願番号）：特開2012-037257
出願日： 2010年08月04日
公開日（公表日）： 2012年02月23日
要約：

【課題】 ワークの寸法を測定するための測定設定データを容易に作成することができる測定設定データ作成装置を提供する。【解決手段】 形状線の位置情報、寸法線の位置情報、並びに、寸法線に関連付けられた設計値及び公差からなる設計値情報を含む設計データを取得する設計データ取得手段と、ワークを含むマスター画像に対し、測定対象箇所及び測定種別を指定するための測定対象箇所指定手段と、指定された測定対象箇所について、マスター画像からエッジを抽出するエッジ抽出手段と、抽出されたエッジに基づいて、測定対象箇所の寸法値を算出する寸法値算出手段と、算出された寸法値に近い設計値からなる設計値情報を設計データから抽出する設計値情報抽出手段と、指定された測定対象箇所及び測定種別からなる測定対象箇所情報、並びに、測定対象箇所に関連付けた設計値情報を含む測定設定データを生成する測定設定データ生成手段により構成される。【選択図】 図6

請求項（抜粋）：

ワークを撮影したワーク画像を取得し、上記ワーク画像内のエッジを検出することにより、上記ワークの寸法を測定するための測定設定データを作成する測定設定データ作成装置において、 上記ワークの輪郭形状を示す形状線の位置情報、寸法線の位置情報、並びに、上記寸法線に関連付けられた設計値及び公差からなる設計値情報を含む設計データを取得する設計データ取得手段と、 上記ワークを含むマスター画像に対し、測定対象箇所及び測定種別を指定するための測定対象箇所指定手段と、 指定された測定対象箇所について、上記マスター画像からエッジを抽出するエッジ抽出手段と、 抽出されたエッジに基づいて、上記測定対象箇所の寸法値を算出する寸法値算出手段と、 算出された寸法値に近い設計値からなる設計値情報を上記設計データから抽出する設計値情報抽出手段と、 指定された上記測定対象箇所及び上記測定種別からなる測定対象箇所情報、並びに、上記測定対象箇所に関連付けた上記設計値情報を含む測定設定データを生成する測定設定データ生成手段とを備えたことを特徴とする測定設定データ作成装置。

IPC (1件)：

G01B 11/02

FI (1件)：

G01B11/02 H

Fターム (27件)：

2F065AA12 ,  2F065AA21 ,  2F065AA26 ,  2F065AA27 ,  2F065AA28 ,  2F065FF02 ,  2F065FF42 ,  2F065GG17 ,  2F065HH12 ,  2F065HH13 ,  2F065HH14 ,  2F065HH15 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ09 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL00 ,  2F065LL05 ,  2F065LL10 ,  2F065LL30 ,  2F065LL59 ,  2F065PP12 ,  2F065QQ23 ,  2F065QQ39 ,  2F065RR08 ,  2F065SS02 ,  2F065SS13 ,  2F065TT02