特許
J-GLOBAL ID:201203093215271926

非接触給電装置の金属異物検出方法、非接触給電装置、電気機器に設けられた受電装置及び非接触給電システム

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件): 恩田 博宣 ,  恩田 誠
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2011-112629
公開番号(公開出願番号):特開2012-244778
出願日: 2011年05月19日
公開日(公表日): 2012年12月10日
要約:
【課題】非接触給電装置の給電コイルの励磁周波数を変えることなく金属異物の検出ができ、しかも、安価に製造ができる非接触給電装置の金属異物検出方法、非接触給電装置、電気機器に設けられた受電装置及び非接触給電システムを提供する。【解決手段】給電装置1に設けた金属検出回路33から発振信号を機器Eの変調回路16に送信する。機器Eの変調回路16において、その発振信号から方形波パルス信号を生成するとともに、金属片の有無に基づいて方形波パルス信号の周期を変更させるようにし、その方形波パルス信号を被変調波信号に変調して金属検出回路33に送信する。給電装置1の金属検出回路33において、被変調波信号を復調して、その復調した復調信号、すなわち、方形波パルス信号の周期を計測して金属片の有無を判定する。【選択図】図3
請求項(抜粋):
電気機器に設けられた受電装置に対して、電磁誘導現象を利用して給電を行う非接触給電装置の金属異物検出方法であって、 前記非接触給電装置から前記受電装置に発振信号を送信し、 前記受電装置において、受信した前記発振信号から金属異物の有無による磁束変化に基づく変調波を検出し、前記変調波を非接触給電装置に送信するために、キャリア信号を前記変調波にて変調させて被変調波信号を生成して非接触給電装置に送信し、 前記受電装置から送信された被変調波信号を受信し復調して、その復調信号に基づいて金属異物の有無を判定するようにしたことを特徴とする非接触給電装置の金属異物検出方法。
IPC (1件):
H02J 17/00
FI (1件):
H02J17/00 B
引用特許:
審査官引用 (1件)
  • 非接触給電システム
    公報種別:公開公報   出願番号:特願2009-104441   出願人:パナソニック電工株式会社

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