特許
J-GLOBAL ID:201203094256548025

パターン認識装置及びパターン認識方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (3件): 井上 学 ,  戸田 裕二 ,  岩崎 重美
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2011-009360
公開番号(公開出願番号):特開2012-150681
出願日: 2011年01月20日
公開日(公表日): 2012年08月09日
要約:
【課題】 識別に有効な特徴成分を残しつつ識別に不要な成分を削除して特徴選択を行い、認識を高速化、高精度化する。【解決手段】 学習用パターンから選定されるパターン対の各々についてn次元特徴を抽出し、その差分特徴の各々に対して重要度を設定する。差分特徴の射影長を保存するような特徴成分を重要度の順に導出し、導出された特徴成分が生成する差分主空間へn次元特徴を射影する射影行列を生成して差分主空間辞書に記録する。射影行列を用いて学習用パターンのn次元特徴をm次元特徴に変換し、学習用パターンを識別するための識別関数を生成して差分空間内識別辞書に記録する。与えられたパターンの認識時には、識対象となるパターンからn次元特徴を抽出し、差分主空間辞書に記録された射影行列を用いてm次元特徴を取得し、差分主空間内識別辞書の識別関数を用いて各カテゴリに対するパターンの類似度を算出する。【選択図】 図2
請求項(抜粋):
学習用パターンDBから学習用パターンを入力する第1のパターン入力部と、 前記第1のパターン入力部より入力された学習用パターンの各々からn次元特徴を抽出する第1の特徴抽出部と、 前記学習用パターンから複数のパターン対を選定し、各々のパターン対について、前記第1の特徴抽出部により抽出されたn次元特徴の差分特徴を算出する差分特徴サンプリング部と、 前記複数のパターン対の各々について得られた前記差分特徴の各々に対して重要度を設定する差分特徴重み設定部と、 前記複数のパターン対とその差分特徴の各々について設定された前記重要度とに基づいて、前記差分特徴の射影長を保存するような特徴成分を重要度の順に導出する差分主特徴導出部と、 前記特徴成分を重要度が高い順に複数選定し、前記選定された複数の特徴成分が生成する部分空間(差分主空間)への射影行列を生成し、当該射影行列を差分主空間辞書に記録する差分主空間生成部と、 前記学習用パターンから生成された前記n次元特徴の各々を、前記射影行列を用いて前記差分主空間へ射影する第1の差分主空間射影部と、 前記差分主空間上において、前記学習用パターンを識別するための識別関数を生成する差分主空間内識別学習部と、 認識対象パターンを入力する第2のパターン入力部と、 前記第2のパターン入力部より入力された前記認識対象パターンのn次元特徴を抽出する第2の特徴抽出部と、 前記第2の特徴抽出部で抽出された前記認識対象パターンのn次元特徴を、前記差分主空間辞書に記録された射影行列を用いて、記差分主空間へ射影する第2の差分主空間射影部と、 前記差分主空間内識別辞書に記録された前記識別関数を用いて、各々のカテゴリに対するパターンの類似度を算出する差分主空間内識別部と、 前記差分主空間内識別部により算出された前記類似度を用いて認識結果を出力する認識結果出力部と、を有するパターン認識装置。
IPC (2件):
G06K 9/66 ,  G10L 15/02
FI (2件):
G06K9/66 ,  G10L15/02 200A
Fターム (8件):
5B064BA01 ,  5B064CA09 ,  5B064CA11 ,  5B064CA13 ,  5B064DA27 ,  5B064EA08 ,  5B064FA12 ,  5D015FF01
引用特許:
審査官引用 (1件)
  • 特開平4-096885

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