特許

J-GLOBAL ID：201203095112689399

二次電池、二次電池の正極または負極の抵抗測定方法、および、二次電池の正極または負極の劣化程度診断方法

発明者： 安井 基陽 ,  中原 謙太郎 ,  岩佐 繁之
出願人/特許権者： 日本電気株式会社
代理人 (4件)： 辻丸 光一郎 ,  中山 ゆみ ,  吉田 玲子 ,  伊佐治 創
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2010-224834
公開番号（公開出願番号）：特開2012-079582
出願日： 2010年10月04日
公開日（公表日）： 2012年04月19日
要約：

【課題】 正極と負極のそれぞれの抵抗を個別に、かつ精度良く測定できて、劣化の程度を容易にかつ精度良く診断可能な二次電池を提供する。 【解決手段】 正極101、負極102および電解質含有相を含み、 正極101と負極102が前記電解質含有相を介して電荷を授受することにより、充放電可能であり、 さらに、参照極103および対極104を含み、 参照極103および対極104は、前記電解質含有相を介して互いに電気的に接続され、かつ、前記電解質含有相を介して正極101および負極102と電気的に接続されていることを特徴とする二次電池。【選択図】図2

請求項（抜粋）：

正極、負極および電解質含有相を含み、 前記正極と前記負極が前記電解質含有相を介して電荷を授受することにより、充放電可能であり、 さらに、参照極および対極を含み、 前記参照極および前記対極は、前記電解質含有相を介して互いに電気的に接続され、かつ、前記電解質含有相を介して前記正極および前記負極と電気的に接続されていることを特徴とする二次電池。

IPC (6件)：

H01M 10/04 ,  H01M 10/48 ,  H01M 10/058 ,  H01M 2/16 ,  G01R 31/36 ,  H02J 7/00

FI (6件)：

H01M10/04 Z ,  H01M10/48 P ,  H01M10/00 115 ,  H01M2/16 Z ,  G01R31/36 ,  H02J7/00 Q

Fターム (33件)：

2G016CA03 ,  2G016CB05 ,  2G016CB06 ,  2G016CC01 ,  2G016CC09 ,  5G503AA01 ,  5G503BA01 ,  5G503BB01 ,  5G503EA09 ,  5H021CC02 ,  5H028AA05 ,  5H028BB11 ,  5H028CC08 ,  5H028EE01 ,  5H028HH10 ,  5H029AJ00 ,  5H029AK03 ,  5H029AK15 ,  5H029AL07 ,  5H029AL12 ,  5H029AM02 ,  5H029AM03 ,  5H029AM04 ,  5H029AM05 ,  5H029AM07 ,  5H029AM16 ,  5H029BJ21 ,  5H029DJ04 ,  5H029EJ06 ,  5H029HJ20 ,  5H030AA10 ,  5H030AS08 ,  5H030FF41