特許
J-GLOBAL ID:201203095186748400

不良記録素子の検出装置及び方法、画像形成装置及び方法、並びにプログラム

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 松浦 憲三
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2011-072573
公開番号(公開出願番号):特開2012-206322
出願日: 2011年03月29日
公開日(公表日): 2012年10月25日
要約:
【課題】記録解像度よりも低解像度の読取装置を用いた場合であっても、記録ヘッドにおける不良記録素子(特に、記録位置誤差が大きいもの)を精度良く検出する。【解決手段】記録ピッチWPの記録素子のうち検出ピッチ数PP間隔の記録素子を動作させて記録したライン状のテストパターンを読み取り、読取画像信号を得る。読取画素ピッチWS、解析ピッチ数PSとするとき、T=WP×PP÷|WS×PS-WP×PP|>3とする。読取画素番号を解析ピッチ数PSで除算した剰余によって、読取画像信号を複数の系列に分解し、各系列において予測される規則的な信号を計算する。この予測信号に基づいて検出距離条件に相当する閾値を決定する。各系列において原信号から予測信号を減じた変動信号を計算し、変動信号と閾値を比較して不良記録素子を判定する。【選択図】図8
請求項(抜粋):
複数の記録素子が配列された記録ヘッドに対して記録媒体を相対移動させて前記記録素子により前記記録媒体上に記録したテストパターンの読取画像信号を取得する読取画像信号取得手段と、 前記読取画像信号を解析して前記複数の記録素子の中から不良記録素子を特定する処理を行う信号処理手段と、を備えた不良記録素子の検出装置であって、 前記テストパターンは、前記記録ヘッドの前記複数の記録素子を前記相対移動方向と直交する第1方向と平行な直線上に投影したときの投影記録素子の並びのうち、一定の検出ピッチ数PPの間隔で選択される前記投影記録素子に対応する記録素子を動作させて記録したライン状のパターンを含み、 前記第1方向に並ぶ前記各投影記録素子の間隔を記録画素ピッチWP、前記読取画像データの前記第1方向の画素サイズを読取画素ピッチWS、前記読取画像信号を解析する際の解析単位として前記第1方向に連続して並ぶ複数個の読取画素のまとまりを解析ピッチ数PSとするとき、 T=WP×PP÷|WS×PS-WP×PP| から求められる周期Tが前記読取画像信号の画素単位で3以上であり、 前記信号処理手段は、 前記取得した読取画像信号について、前記第1の方向に並ぶ各画素に対してその並び順に、連続する整数で読取画素番号を付与したとき、その読取画素番号を前記解析ピッチ数PSで除算した剰余の値により、前記読取画像信号の画素列を前記剰余が異なる複数の系列に分解し、系列毎の画像信号を生成する分解手段と、 前記読取画像信号に基づき前記各系列において予測される規則的な予測信号を計算する予測信号生成手段と、 前記予測信号から記録位置誤差の検出距離条件に相当する階調値差を求め、この階調値差から、記録位置誤差が大きいと判定する条件に相当する閾値を決定する閾値決定手段と、 前記各系列の画像信号と前記予測信号との差を示す変動信号を算出する変動信号算出手段と、 前記変動信号と前記閾値との比較に基づいて前記記録ヘッドにおける前記複数の記録素子の中から不良記録素子を特定する不良記録素子判定手段と、 を備えることを特徴とする不良記録素子の検出装置。
IPC (2件):
B41J 2/01 ,  B41J 29/46
FI (2件):
B41J3/04 101Z ,  B41J29/46 C
Fターム (18件):
2C056EA14 ,  2C056EB27 ,  2C056EB40 ,  2C056EB42 ,  2C056EC08 ,  2C056EC28 ,  2C056EC76 ,  2C056EC79 ,  2C056FA13 ,  2C056HA46 ,  2C056HA58 ,  2C061AP01 ,  2C061AQ05 ,  2C061KK13 ,  2C061KK18 ,  2C061KK22 ,  2C061KK26 ,  2C061KK28
引用特許:
出願人引用 (5件)
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審査官引用 (5件)
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