特許
J-GLOBAL ID:201203098068718709
光波長フィルタリングを使用して表面を検査するシステムおよび方法
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
特許業務法人川口國際特許事務所
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2012-510801
公開番号(公開出願番号):特表2012-526988
出願日: 2010年02月12日
公開日(公表日): 2012年11月01日
要約:
表面、たとえば鉄道線路軌道の昼間の検査のためのシステムおよび方法が開示されている。開示されるシステムはレーザ、カメラ、およびプロセッサを含む。レーザは表面に隣接して配置される。レーザは、表面の幅の1インチあたりの強度が少なくとも0.15ワットの合成強度で表面全体に光のビームを放出し、カメラは、表面上に放出される光のビームを有する表面の画像を取り込む。カメラは、日射内のディップ(dip)に対応する光の帯域だけを通過させる帯域フィルタを含む。レーザはディップでの日射より強い、放出される光ビームを提供するように選択される。プロセッサは、画像が表面の様々な測定できる様態を決定するために分析されることができるように、画像をフォーマットする。システムおよび方法は、表面のそれらの測定できる様態を決定するための1つまたは複数のアルゴリズムを含む。
請求項(抜粋):
表面を検査するシステムであって、
光のビームの幅の1インチあたりの強度が総計で少なくとも0.15ワットの光のビームを表面全体に投射するように適合される、表面に隣接して配置される少なくとも1つの光発生器と、
表面から反射される光の少なくとも一部を受け取るため、および表面の少なくとも一部のプロファイルを表す少なくとも1つの画像を生成するために表面に隣接して配置される少なくとも1つのカメラであり、日射内のディップに対応する、光発生器により投射される光のビームの帯域を通過させるように適合される帯域フィルタを含む少なくとも1つのカメラと、
少なくとも1つの画像を分析し、表面の一部の1つまたは複数の物理的特性を決定するように適合される少なくとも1つのプロセッサと
を含むシステム。
IPC (4件):
G01B 11/24
, G01B 11/02
, E01B 35/08
, G06T 1/00
FI (4件):
G01B11/24 K
, G01B11/02 H
, E01B35/08
, G06T1/00 330Z
Fターム (44件):
2D057AB02
, 2F065AA04
, 2F065AA22
, 2F065AA24
, 2F065AA52
, 2F065AA63
, 2F065AA65
, 2F065BB05
, 2F065CC35
, 2F065DD04
, 2F065FF01
, 2F065FF02
, 2F065FF04
, 2F065FF09
, 2F065GG04
, 2F065HH05
, 2F065HH13
, 2F065JJ03
, 2F065JJ05
, 2F065JJ08
, 2F065JJ26
, 2F065LL04
, 2F065LL22
, 2F065MM07
, 2F065QQ21
, 2F065QQ31
, 5B057AA16
, 5B057BA02
, 5B057BA15
, 5B057CA02
, 5B057CA08
, 5B057CA12
, 5B057CA16
, 5B057CB02
, 5B057CB08
, 5B057CB12
, 5B057CB16
, 5B057DA03
, 5B057DA07
, 5B057DA08
, 5B057DA15
, 5B057DC03
, 5B057DC08
, 5B057DC16
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