研課題
J-GLOBAL ID:201204093309892901  研究課題コード:5935 更新日:2013年10月07日

走査電子顕微鏡による透過二次電子像観察のための試料ホルダ開発

実施期間:2008 - 継続中
実施機関 (1件):
実施研究者(所属機関) (1件):
研究概要:
走査電子顕微鏡(SEM)を用いて、透過電子顕微鏡(TEM)用薄膜試料の透過二次電子像が観察できる試料ホルダの開発・実用化を試みるものである。透過像観察の試料は、超薄切片、薄膜上の微生物・タンパク、レプリカ膜などとし、これらの試料が装着できる形状とする。得られる透過二次電子像のコントラスト・解像度及び試料移動等の操作性についてTEMに匹敵する性能を目指すと共に、薄膜試料のX線元素分析にも対応できる試料ホルダの開発をするものである。
研究制度: シーズ発掘試験
研究所管省庁:
文部科学省
研究所管機関:
独立行政法人科学技術振興機構
上位研究課題 (1件):

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