研課題
J-GLOBAL ID:201204096615069126  研究課題コード:8460 更新日:2013年10月07日

故障励起関数に基づく高性能LSIに対する高効率故障検査ツールの開発

実施期間:2008 - 継続中
実施機関 (1件):
実施研究者(所属機関) (1件):
研究概要:
次世代の携帯電話用、デジタル機器用、および車載用の高性能LSIでは、信頼性確保のためのテストコストの増大が極めて深刻な問題である。本研究では、テスト記憶容量およびテスト印加時間等検査機器の制限がある中で、多様な故障モデルを高効率・高確率で検出できる「欠陥検出向けテスト集合生成ツール」の実用化を目指している。本研究の基本的なアイディアは、故障の励起条件に着目することである。
研究制度: シーズ発掘試験
研究所管省庁:
文部科学省
研究所管機関:
独立行政法人科学技術振興機構
上位研究課題 (1件):

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