文献

J-GLOBAL ID：201302203151705025   整理番号：13A1478681

低放射率膜のターゲットの赤外線特性の解析

Analysis on infrared signature of the target with low emissivity film

著者 (3件)： Ren Dengfeng (School of Energy and Power Engineering, Nanjing Univ. of Sci. and Technol., Nanjing) ,  Han Yuge (School of Energy and Power Engineering, Nanjing Univ. of Sci. and Technol., Nanjing) ,  Xuan Yimin (School of Energy and Power Engineering, Nanjing Univ. of Sci. and Technol., Nanjing)
資料名： Hongwai yu Jiguang Gongcheng  (Hongwai yu Jiguang Gongcheng)
巻： 41  号： 11  ページ： 2916-2920  発行年： 2012年 
JST資料番号： C2521A  ISSN： 1007-2276  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 中国 (CHN)  言語： 中国語 (ZH)

抄録/ポイント： 赤外線検出技術やミサイルガイド技術が急速に開発された。このために,赤外線ステルスやターゲット評価に関する研究が軍事的に重要になった。低放射率の膜は,赤外線ステルス法の一つである。低放射率膜の赤外線ステルス評価は基盤になる。膜被覆ターゲットの温度と赤外線特性モデルを確立した。ターゲットと外部の環境の間の対流や放射熱伝達を総合的に検討した。この数値計算プログラムを構築した。低放射率膜利用の前後で,ターゲットの時間依存性表面温度および赤外線特性を計算した。二種類の低放射率膜において,熱赤外線ステルスコーティング効果を解析した。この結果,膜の放射率の選択では,膜や外部環境で制御された波長の積分効果を考慮しなければならない。Data from the ScienceChina, LCAS. Translated by JST

シソーラス用語： 計算機プログラム ,  被覆 ,  放射熱伝達 ,  ターゲット ,  時間依存性 ,  表面温度 ,  検出法 ,  数値計算 ,  *分光放射率 ,  *誘電体薄膜 ,  赤外スペクトル

分類 (2件)： 分光法と分光計一般  (BD07041Q) ,  放射伝達,放射変調  (BD03080P)

タイトルに関連する用語 (4件)： 放射率 ,  ターゲット ,  赤外線 ,  解析