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J-GLOBAL ID：201302204540004446   整理番号：13A0230104

SACLAを用いたSi単結晶薄膜の超高時間分解BraggコヒーレントX線回折測定

著者 (18件)： 中谷貴司 (関西学院大 理工) ,  中谷貴司 (理研) ,  伊藤基巳紀 (理研) ,  鬼塚怜奈 (関西学院大 理工) ,  鬼塚怜奈 (理研) ,  NEWTON Marcus (北大 電子科研) ,  佐藤尭洋 (理研) ,  富樫格 (JASRI) ,  矢橋牧名 (理研) ,  島田康気 (京大 大学院) ,  徳田一弥 (京大 大学院) ,  河口智也 (京大 大学院) ,  高橋功 (関西学院大 理工) ,  市坪哲 (京大 大学院) ,  松原英一郎 (京大 大学院) ,  西野吉則 (北大 電子科研) ,  田中義人 (理研) ,  田中義人 (関西学院大 理工)
資料名： 日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム予稿集  (日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム)
巻： 26th  ページ： 107  発行年： 2013年01月12日 
JST資料番号： L1310A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： X線レーザ ,  自由電子レーザ ,  *ケイ素 ,  単結晶 ,  半導体薄膜 ,  *X線回折 ,  X線 ,  電磁パルス ,  フェムト秒 ,  Bragg反射 ,  SOI構造 ,  *SACLA【レーザ】 ,  X線パルス
準シソーラス用語： *コヒーレントX線回折

分類 (1件)： X線回折法  (BK01020I)

タイトルに関連する用語 (5件)： SACLA ,  Si ,  単結晶薄膜 ,  分解 ,  コヒーレントX線