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J-GLOBAL ID：201302205051036870   整理番号：13A0880354

表面分析のためのブリキ試料の前処理

Pretreatment of tinplate sample for surface analysis

著者 (3件)： Chen Sheng (Res. Inst. of Baoshan Iron & Steel Co.Ltd., Shanghai) ,  Xue Fei (Res. Inst. of Baoshan Iron & Steel Co.Ltd., Shanghai) ,  Liu Junliang (Res. Inst. of Baoshan Iron & Steel Co.Ltd., Shanghai)
資料名： Yejin Fenxi  (Yejin Fenxi)
巻： 32  号： 4  ページ： 23-27  発行年： 2012年 
JST資料番号： C2412A  ISSN： 1000-7571  CODEN： YEFEET  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 中国 (CHN)  言語： 中国語 (ZH)

抄録/ポイント： 種々の洗浄液で清掃し,エアガンで乾燥したブリキの表面組成を,X線光電子分光法(XPS)によって分析する。これらの従来の前処理の後,炭素,酸素,およびもしかすると水素からなる薄膜が試料の各表面に存在するのを見つける。この薄膜は,大気条件下の室温で安定状態を保っていて,わずかな加熱で,完全に取り除くことができる。したがって,ブリキ表面分析に関して満足できる前処理方法を得る:真空容器に試料移送の前に,超音波およびアルコール洗浄を実施する。分析を必要とする清浄面を得るため,分析直前に保護的薄膜を取り除くように試料をわずかに加熱する。Data from the ScienceChina, LCAS. Translated by JST

シソーラス用語： *表面分析 ,  X線光電子分光法 ,  真空容器 ,  条件 ,  状態 ,  アルコール ,  組成
準シソーラス用語： 大気条件 ,  安定状態【物質】 ,  表面組成

分類 (1件)： 金属,合金の物理分析  (CC03040V)

タイトルに関連する用語 (3件)： 表面分析 ,  ブリキ ,  試料