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J-GLOBAL ID:201302206145282839   整理番号:13A0035713

電子ディスプレイ及び太陽電池のためのシリコンのRaman顕微鏡観察:微細構造化表面に関して観測した増強Raman散乱

Raman microscopy of silicon for electronic displays and solar cells: Enhanced Raman scattering observed for microstructured surface
著者 (2件):
資料名:
巻: 112  号: 12  ページ: 123524-123524-7  発行年: 2012年12月15日 
JST資料番号: C0266A  ISSN: 0021-8979  CODEN: JAPIAU  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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分類 (2件):
分類
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無機化合物の赤外スペクトル及びRaman散乱,Ramanスペクトル  ,  半導体薄膜 

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