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J-GLOBAL ID：201302206145282839   整理番号：13A0035713

電子ディスプレイ及び太陽電池のためのシリコンのRaman顕微鏡観察:微細構造化表面に関して観測した増強Raman散乱

Raman microscopy of silicon for electronic displays and solar cells: Enhanced Raman scattering observed for microstructured surface

著者 (2件)： KITAHARA K. (Interdisciplinary Graduate School of Sci. and Engineering, Shimane Univ., 1060, Nishikawatsu, Matsue 690-8504, JPN) ,  ISHIZAKI A. (Interdisciplinary Graduate School of Sci. and Engineering, Shimane Univ., 1060, Nishikawatsu, Matsue 690-8504, JPN)
資料名： Journal of Applied Physics  (Journal of Applied Physics)
巻： 112  号： 12  ページ： 123524-123524-7  発行年： 2012年12月15日 
JST資料番号： C0266A  ISSN： 0021-8979  CODEN： JAPIAU  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

シソーラス用語： *ケイ素 ,  *半導体薄膜 ,  *微細構造 ,  *表面増強Raman散乱 ,  結晶粒界 ,  欠陥密度 ,  表示装置 ,  太陽電池
準シソーラス用語： 電子ディスプレイ

分類 (2件)： 無機化合物の赤外スペクトル及びRaman散乱,Ramanスペクトル  (BM08063C) ,  半導体薄膜  (BK14040E)

タイトルに関連する用語 (9件)： 電子ディスプレイ ,  太陽電池 ,  シリコン ,  Raman顕微鏡 ,  観察 ,  微細構造 ,  観測 ,  増強 ,  Raman散乱