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J-GLOBAL ID：201302206318473813   整理番号：13A0230187

粉末回折異常微細構造(PDAFS)法による測定高速化と解析方法の開発

著者 (10件)： 河口智也 (京大 工) ,  徳田一弥 (京大 工) ,  島田康気 (京大 工) ,  大石昌嗣 (京大 工) ,  松原英一郎 (京大 工) ,  福田勝利 (京大) ,  谷田肇 (京大) ,  水木純一郎 (関学) ,  内本喜晴 (京大) ,  小久見善八 (京大)
資料名： 日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム予稿集  (日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム)
巻： 26th  ページ： 128  発行年： 2013年01月12日 
JST資料番号： L1310A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： X線回折 ,  *XAFS ,  異常分散 ,  *X線構造解析 ,  構造因子 ,  吸収端 ,  鉄 ,  酸化鉄 ,  磁鉄鉱
準シソーラス用語： *X線粉末回折

分類 (2件)： X線回折法  (BK01020I) ,  X線スペクトル一般  (BM08101P)

タイトルに関連する用語 (6件)： 粉末回折 ,  微細構造 ,  法 ,  高速化 ,  解析方法 ,  開発