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J-GLOBAL ID：201302207585826233   整理番号：13A0141617

走査型透過型電子顕微鏡法用の空間分解電子エネルギー損失近吸収端構造のシミュレーション

Simulation of Spatially Resolved Electron Energy Loss Near-Edge Structure for Scanning Transmission Electron Microscopy

著者 (9件)： PRANGE M. P. (Vanderbilt Univ., Tennessee, USA) ,  PRANGE M. P. (Oak Ridge National Lab., Tennessee, USA) ,  OXLEY M. P. (Vanderbilt Univ., Tennessee, USA) ,  OXLEY M. P. (Oak Ridge National Lab., Tennessee, USA) ,  VARELA M. (Oak Ridge National Lab., Tennessee, USA) ,  PENNYCOOK S. J. (Vanderbilt Univ., Tennessee, USA) ,  PENNYCOOK S. J. (Oak Ridge National Lab., Tennessee, USA) ,  PANTELIDES S. T. (Vanderbilt Univ., Tennessee, USA) ,  PANTELIDES S. T. (Oak Ridge National Lab., Tennessee, USA)
資料名： Physical Review Letters  (Physical Review Letters)
巻： 109  号： 24  ページ： 246101.1-246101.5  発行年： 2012年12月14日 
JST資料番号： H0070A  ISSN： 0031-9007  CODEN： PRLTAO  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

シソーラス用語： 透過型走査電子顕微鏡 ,  *空間分解分光法 ,  *電子エネルギー損失分光法 ,  電子エネルギー損失スペクトル ,  吸収端 ,  微細構造 ,  ランタン化合物 ,  マンガン化合物 ,  酸化物
準シソーラス用語： *STEM【顕微鏡】 ,  *ELNES

分類 (2件)： 電子分光スペクトル  (BM09060K) ,  電子分光法  (BK01050P)

タイトルに関連する用語 (7件)： 走査型 ,  透過型電子顕微鏡法 ,  分解 ,  電子エネルギー ,  損失 ,  吸収端 ,  シミュレーション