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J-GLOBAL ID：201302209085189221   整理番号：13A1474920

小型LCDのLC細胞の欠陥検査における組織構造除去

Texture Eliminating in Defects Inspection of LC Cell of Small-size LCD

著者 (8件)： Yao Jingzhao (Modern Opto-Electronic Measurement & Instrument Lab(MOEMIL),School of Optoelectronic Information,Univ. of Electronic ...) ,  Ye Yutang (Modern Opto-Electronic Measurement & Instrument Lab(MOEMIL),School of Optoelectronic Information,Univ. of Electronic ...) ,  Liu Lin (Modern Opto-Electronic Measurement & Instrument Lab(MOEMIL),School of Optoelectronic Information,Univ. of Electronic ...) ,  Liu Juanxiu (Modern Opto-Electronic Measurement & Instrument Lab(MOEMIL),School of Optoelectronic Information,Univ. of Electronic ...) ,  Luo Ying (Modern Opto-Electronic Measurement & Instrument Lab(MOEMIL),School of Optoelectronic Information,Univ. of Electronic ...) ,  Ye Han (Modern Opto-Electronic Measurement & Instrument Lab(MOEMIL),School of Optoelectronic Information,Univ. of Electronic ...) ,  Xu Wei (Modern Opto-Electronic Measurement & Instrument Lab(MOEMIL),School of Optoelectronic Information,Univ. of Electronic ...) ,  Li Canghai (Modern Opto-Electronic Measurement & Instrument Lab(MOEMIL),School of Optoelectronic Information,Univ. of Electronic ...)
資料名： Guangdian Gongcheng  (Guangdian Gongcheng)
巻： 39  号： 10  ページ： 116-121  発行年： 2012年 
JST資料番号： C2092A  ISSN： 1003-501X  CODEN： GUGOEC  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 中国 (CHN)  言語： 中国語 (ZH)

抄録/ポイント： 小型液晶表示(LCD)のLC細胞の欠陥検出における組織構造除去の手法を提案し,小型LCDに関する国内初のLC細胞欠陥自動光学検査(AOI)を実施した。この方法の基本原理は,標準LCDの画像から確立される補正マトリクスによってLCD画像を検出する事前処理において組織構造を除去することである。ここで発表する組織構造除去の手法により,LCD画像において現れる組織構造が欠陥検出をより困難にするという問題を解決することができる。理論解析と実験結果は,この方法を用いることにより組織構造が除去され,欠陥が完全に保たれて,AOIの検出精度が大いに向上することを示す。Data from the ScienceChina, LCAS. Translated by JST

シソーラス用語： 組織構造 ,  欠陥検査 ,  *液晶ディスプレイ ,  前処理 ,  故障検出 ,  精度 ,  解析
準シソーラス用語： *LCD【表示装置】 ,  液晶表示 ,  欠陥検出 ,  検出精度 ,  事前処理 ,  実験結果 ,  理論解析

分類 (1件)： 図形・画像処理一般  (JE04010I)

タイトルに関連する用語 (4件)： LCD ,  細胞 ,  欠陥検査 ,  組織構造