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J-GLOBAL ID：201302211053204487   整理番号：13A0097604

CREME:マイクロエレクトロニクスコードへの宇宙線効果の2011年改訂

CREME: The 2011 Revision of the Cosmic Ray Effects on Micro-Electronics Code

著者 (8件)： ADAMS J. H., Jr. ,  BARGHOUTY A. F. (NASA, AL, USA) ,  MENDENHALL M. H. (Vanderbilt Univ., TN, USA) ,  REED R. A. (Vanderbilt Univ., TN, USA) ,  SIERAWSKI B. D. (Vanderbilt Univ., TN, USA) ,  WARREN K. M. (Vanderbilt Univ., TN, USA) ,  WATTS J. W. ,  WELLER R. A. (Vanderbilt Univ., TN, USA)
資料名： IEEE Transactions on Nuclear Science  (IEEE Transactions on Nuclear Science)
巻： 59  号： 6,Pt.1  ページ： 3141-3147  発行年： 2012年12月 
JST資料番号： C0235A  ISSN： 0018-9499  CODEN： IETNAE  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： シングル・イベント効果と吸収線量に対してCREME96とCREME86が持つ機能と新しい放射線環境及び新しいモンテカルロ計算の能力を組合せたツールパッケージソフトについて述べた。

シソーラス用語： 過渡現象 ,  モンテカルロ法 ,  応用プログラム ,  *プログラムパッケージ ,  照射線量 ,  マイクロエレクトロニクス ,  放射線効果 ,  *宇宙線
準シソーラス用語： *SET【シングルイベント】 ,  *シングルイベント効果

分類 (1件)： 半導体の放射線による構造と物性の変化  (BK16123E)

タイトルに関連する用語 (3件)： マイクロエレクトロニクス ,  宇宙線 ,  改訂