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J-GLOBAL ID：201302213601248385   整理番号：13A0615584

コムギeyespot様病斑に対するAegilops longissimaが持つ耐性の新しい原因の同定

Identifying New Sources of Resistance to Eyespot of Wheat in Aegilops longissima

著者 (2件)： SHENG H. (Washington State Univ., Pullman) ,  MURRAY T. D. (Washington State Univ., Pullman)
資料名： Plant Disease  (Plant Disease)
巻： 97  号： 3  ページ： 346-353  発行年： 2013年03月 
JST資料番号： B0436C  ISSN： 0191-2917  CODEN： PLDIDE  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： コムギに重要な病害であるeyespot様病斑に対する耐性遺伝子をコムギ遠縁種であるAegilops longissima登録品種40種などで検索した。この結果,原因菌であるOculimacula yallundaeへの耐性品種が43%,O.acuformisへの耐性品種が48%,両方への耐性品種が33%だった。またS¹ゲノムの複数の染色体上に耐病性遺伝子があることが明らかとなり,今後,コムギの耐病性品種を育種するために本研究の知見が生かせると考えられる。

シソーラス用語： *Aegilops ,  コムギ ,  *植物病害 ,  植物病原菌 ,  *耐病性遺伝子 ,  育種 ,  品種 ,  菌類
準シソーラス用語： *Aegilops longissima ,  耐病性育種 ,  耐病性品種 ,  *eyespot様病斑 ,  Oculimacula yallundae ,  Oculimacula acuformis

分類 (4件)： 菌類による植物病害  (FC04052Y) ,  麦  (FC03033M) ,  栽培的防除  (FC05020Q) ,  遺伝子の構造と化学  (EC02020U)

タイトルに関連する用語 (6件)： コムギ ,  病斑 ,  Aegilops ,  耐性 ,  原因 ,  同定