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J-GLOBAL ID：201302215309292724   整理番号：13A1678771

直衝突イオン散乱分光法における相互作用ポテンシャルについての遮蔽長補正の評価

Evaluation of screening length corrections for interaction potentials in impact-collision ion scattering spectroscopy

著者 (1件)： TAKEUCHI Wataru (Okayama Univ. Sci., Okayama, JPN)
資料名： Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section B. Beam Interactions with Materials and Atoms  (Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section B. Beam Interactions with Materials and Atoms)
巻： 313  ページ： 33-39  発行年： 2013年 
JST資料番号： H0899A  ISSN： 0168-583X  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

シソーラス用語： *イオン散乱分光法 ,  ポテンシャル ,  相互作用 ,  長さ ,  遮蔽 ,  補正 ,  *表面構造 ,  結晶

分類 (1件)： 固体の表面構造一般  (BK15010E)

タイトルに関連する用語 (4件)： 直衝突イオン散乱分光法 ,  相互作用ポテンシャル ,  遮蔽長 ,  評価