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J-GLOBAL ID：201302215957618414   整理番号：13A0137956

ISO26262標準要求のための品質事故から故障率推定の革新的方法

Innovative Methodology for Failure Rate Estimation from Quality Incidents, for ISO26262 Standard Requirements

著者 (3件)： BERGES C. (Freescale Semiconductor SAS, Toulouse, FRA) ,  CHANDON Y. (Freescale Semiconductor SAS, Toulouse, FRA) ,  GUBIAN R. (Freescale Semiconductor SAS, Toulouse, FRA)
資料名： Proceedings of the International Symposium on the Physical & Failure Analysis of Integrated Circuits  (Proceedings of the International Symposium on the Physical & Failure Analysis of Integrated Circuits)
巻： 19th  ページ： 79-84  発行年： 2012年 
JST資料番号： W1259A  ISSN： 1946-1542  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

シソーラス用語： *故障率 ,  *ISO規格 ,  故障解析 ,  *モデリング ,  *信頼性試験 ,  加速試験 ,  生産ライン ,  自動車工業 ,  *予測技法 ,  安全性 ,  リスク評価
準シソーラス用語： ISO26262

分類 (1件)： 信頼性  (KB04040H)

タイトルに関連する用語 (4件)： 標準 ,  事故 ,  故障率 ,  推定