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J-GLOBAL ID:201302216624942881   整理番号:13A0653500

多孔性錯体を用いたナノグラムからマイクログラムスケールのX線解析

X-ray analysis on the nanogram to microgram scale using porous complexes
著者 (9件):
資料名:
巻: 495  号: 7442  ページ: 461-466  発行年: 2013年03月28日 
JST資料番号: D0193B  ISSN: 0028-0836  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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X線単結晶回折(SCD)解析は,解析対象となる分子を単結晶の状態で得なければならないという本質的な制約がある。今回我々は,試料の結晶化を必要としないSCD解析手法について報告する。この方法では,多孔性錯体の微小結晶を,解析対象物質を溶かした溶液中に浸し,対象分子を錯体に吸収させる。この錯体結晶の結晶構造解析を行うことで,ホスト骨格とともに,吸収されたゲスト分子の構造を明確に決定できる。実際のSCD測定は,たった1個の錯体結晶だけで行えるので,必要な試料の量はナノグラムからマイクログラム程度である。我々は,このSCD解析には約80ngというごく少量の試料で十分であることを実証した。また,このSCD手法を高速液体クロマトグラフィー(LC)と組み合わせることで,複数成分を直接同定することが可能となり,LC-SCD解析という新手法が確立された。さらに,希少海洋天然物の絶対構造をわずか5μgの化合物を用いて明確に決定することも成功した。Copyright Nature Publishing Group 2013
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X線回折法 
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