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J-GLOBAL ID：201302220211455874   整理番号：13A1561560

Fourier変換赤外顕微鏡法とシンクロトロン放射光を利用したX線回折による裂溝齲蝕の局所研究

Local study of fissure caries by Fourier transform infrared microscopy and X-ray diffraction using synchrotron radiation

著者 (6件)： SEREDIN Pavel (Voronezh State Univ., Voronezh, RUS) ,  KASHKAROV Vladimir (Voronezh State Univ., Voronezh, RUS) ,  LUKIN Anatoliy (Voronezh State Univ., Voronezh, RUS) ,  IPPOLITOV Yury (Voronezh State Medical Acad., Voronezh, RUS) ,  JULIAN Robert (Synchrotron Radiation Center, WI, USA) ,  DOYLE Stephen (Synchrotron Light Source ANKA, Eggenstein-Leopoldshafen, DEU)
資料名： Journal of Synchrotron Radiation  (Journal of Synchrotron Radiation)
巻： 20  号： 5  ページ： 705-710  発行年： 2013年09月 
JST資料番号： W0763A  ISSN： 0909-0495  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 赤外分光法とシンクロトロン放射を利用したX線回折により,健全な歯エナメル質とカリエスに罹ったヒトの歯のエナメル質を分析した。エナメル質の裂溝齲蝕は,赤外分光ではN-C-O,N-HおよびC=O結合に関して幾つかの特有な変形と伸縮振動がみられ,また構造解析では結晶組織の指標の低下,および罹ったエナメル質におけるヒドロキシアパタイト結晶の主要配向の不在が特徴的であった。この現象は硬い歯組織の有機母体における破壊過程の存在を示唆した。

シソーラス用語： *う歯 ,  シンクロトロン放射 ,  *X線回折 ,  光学顕微鏡 ,  FTIR分光法 ,  赤外吸収スペクトル ,  エナメル質 ,  ヒドロキシアパタイト ,  伸縮振動【分子】 ,  結晶構造解析 ,  結晶構造 ,  ヒト ,  スペクトル線形 ,  燐灰石 ,  歯科用材料
準シソーラス用語： FTIR【分光法】 ,  FTIRスペクトル ,  エナメル質う蝕 ,  *シンクロトロンX線回折 ,  赤外顕微鏡 ,  *裂溝齲蝕

分類 (2件)： X線回折法  (BK01020I) ,  歯科学一般  (GT01010D)

タイトルに関連する用語 (6件)： Fourier変換 ,  赤外顕微鏡 ,  シンクロトロン放射光 ,  X線回折 ,  裂溝齲蝕 ,  研究