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J-GLOBAL ID：201302222233607107   整理番号：13A1242466

飛行時間法を使用する光学ピンセットの較正

Calibration of optical tweezers using time of flight method

著者 (5件)： Zhou Dandan (Dep. of Optics and Optical Engineering, Univ. of Sci. and Technol. of China, Hefei) ,  Ren Yuxuan (Dep. of Optics and Optical Engineering, Univ. of Sci. and Technol. of China, Hefei) ,  Liu Weiwei (Dep. of Optics and Optical Engineering, Univ. of Sci. and Technol. of China, Hefei) ,  Gong Lei (Dep. of Optics and Optical Engineering, Univ. of Sci. and Technol. of China, Hefei) ,  Li Yinmei (Dep. of Optics and Optical Engineering, Univ. of Sci. and Technol. of China, Hefei)
資料名： Wuli Xuebao  (Wuli Xuebao)
巻： 61  号： 22  ページ： 228702-1-228702-7  発行年： 2012年 
JST資料番号： B0628A  ISSN： 1000-3290  CODEN： WLHPA  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 中国 (CHN)  言語： 中国語 (ZH)

抄録/ポイント： 直径が数百ナノメートルから数マイクロメータまで及ぶミクロスフェアに,較正光トラップ剛性の普通の方法が適切であるが,単に5マイクロメータより大きい直径を持つそれらのミクロスフェアのためのわずかな利点を持っている。これを補償するため,著者らは実験的により大きいミクロスフェアを持つ光トラップ剛性を測定するために飛行時間法を開発した。異なったレーザ出力で異なったサイズと異種材料によるミクロスフェアの光トラップ剛性を比べることによって,飛行時間法はより正確で,5μmより大きいミクロスフェアに実用的になると確認した。結果は,5μmのポリスチレンビーズのBrownian雑音ベースの分析の結果と同じ桁である。結果はカメラの有限帯域幅のため理論値より高い。比較では,飛行時間法は他の方式より優れていて,セルレベルに関する光トラップ剛性の高速較正で理解できる。この方式を特殊な電磁界分布を有する光トラップに適用できる。セルの機械特性測定では,力プローブとしてミクロスフェアを使用するのを避けることができ,したがってセルの膜に関する高度な単分子プロセスの研究に新しい方式を提供する。Data from the ScienceChina, LCAS. Translated by JST

シソーラス用語： *光トラッピング ,  *飛行時間法 ,  *ポリスチレン ,  *粒状材 ,  ミクロスフェア ,  マイクロメータ ,  過程 ,  レーザ出力 ,  分布 ,  材料 ,  機械的性質 ,  プローブ ,  長さ
準シソーラス用語： *光学ピンセット ,  *ポリスチレンビーズ ,  分子プロセス ,  ナノメートル ,  光トラップ ,  電磁界分布 ,  特性測定 ,  異種材料 ,  機械特性 ,  サイズ

分類 (2件)： 分析機器  (CC02020S) ,  原子と光子の相互作用  (BH03060F)

タイトルに関連する用語 (3件)： 飛行時間法 ,  光学ピンセット ,  較正