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J-GLOBAL ID:201302224340437535   整理番号:13A1775381

レーザー回折による界面構造の解析:自己集合粒子層の二次元集合構造

著者 (6件):
資料名:
巻: 59  号:ページ: 176  発行年: 2013年10月31日 
JST資料番号: G0173A  ISSN: 0034-6691  CODEN: PORAAA  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 短報  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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レーザ回折パターンの解析法を確立するため,ポリスチレン粒子の自己集合粒子層の二次元集合構造の回折パターンを測定し,回折理論に基づくシミュレーション結果と比較した。球状ポリスチレン粒子(3.21μm)の単分散水溶液をガラス基板上に滴下し,室温で蒸発させて粒子層を得た。粒子層にArレーザを透過させ,CCD検出器で回折パターンを測定した。レーザの透過位置により様々な回折パターンが得られ,シミュレーション結果と比較することで回折に寄与している粒子数が予測できた。提示法はサブμm~μm粒子層の構造解析に有用と考えられる。
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分類 (3件):
分類
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高分子溶液の物理的性質  ,  固-液界面  ,  コロイド化学一般 
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